[发明专利]一种针对单个纳米颗粒的检测方法

权利要求书

1.一种针对单个纳米颗粒的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：

在盖玻片上附着单个纳米颗粒；

光源发出的光经过线偏振器扩束整形、聚焦后，经薄膜分束器反射到油浸物镜的后焦平面；

调节入射光在所述油浸物镜的后焦平面上的位置，使入射光斜入射到所述盖玻片上，在所述盖玻片表面产生沿表面传播、强度在竖直方向上呈指数衰减的倏逝波；所述倏逝波遇到所述单个纳米颗粒发生散射，其中一部分散射到空间中呈立体角分布，另一部分沿所述盖玻片表面传播产生径向界面散射；

通过CCD收集所述界面散射的信号和所述盖玻片上的反射光，并通过所述CCD对所述单个纳米颗粒进行成像；

其中，所述通过CCD收集所述界面散射的信号和所述盖玻片上的反射光，并通过所述CCD对所述单个纳米颗粒进行成像，包括如下步骤：

通过所述CCD收集所述界面散射的信号和所述盖玻片上的反射光，所述CCD测量所述盖玻片上有单个纳米颗粒的反射光作为当前光斑；

采用所述CCD测量所述盖玻片上无任何单个纳米颗粒的反射光作为背景光斑；

将所述背景光斑与所述当前光斑相减，进行数据平均降噪处理，除去光斑的背景噪声及所述CCD的噪声，增强散射场与背景的对比度，优化成像效果；

所述入射光线在盖玻片表面发生界面散射和全内反射；

其中，沿所述盖玻片表面传播的界面散射与所述倏逝波发生干涉，在所述盖玻片表面产生明暗相间的条纹，且呈同心抛物线形状。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述单个纳米颗粒为病毒、纳米颗粒、碳纳米管、量子点中的一种或多种。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述光源为激光器，所述光源的波长为633nm。

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述油浸物镜的数值孔径为1.7。

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述盖玻片为的折射率为1.78。