[发明专利]无源UHFRFID标签抗干扰能力测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置及方法。

背景技术

射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。

现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置及方法。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置，其中，包射频信号分析装置，RFID标签读写器，干扰源，合路器，天线及环形器，所述射频信号分析装置的输入接口连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器的射频接口连接所述合路器的第一输入接口，所述干扰源的射频接口连接所述合路器的第二输入接口，所述合路器的输出接口连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述天线，还包括一电波暗室，所述天线设置于所述电波暗室内，一待测试标签置于所述电波暗室内，并与所述天线具有预定距离。

本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。

本发明的另一方面，所述干扰源为矢量信号发生器。

本发明的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本发明的另一方面，所述电波暗室内径2.5米。

本发明的另一方面，所述预定距离为1米。

本发明还包括一种无源UHF RFID标签灵敏度测试方法，其中，应用上述的无源UHF RFID标签灵敏度测试装置，还包括如下步骤：

步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送指令；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；

步骤6，根据采集到的所述射频信号，调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答的一第一临界值；

步骤7，使所述干扰源发射干扰信号，并以一定步长逐渐增加发射功率，直至所述待测试标签无法正确应答的一第二临界值；

步骤8，判断当前RFID标签读写器的发射功率是否大于所述第一临界值一预定值，如否增加所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答，并返回所述步骤7；

步骤9，记录当前所述干扰源的发射功率。

本发明的另一方面，所述步骤4中，所述RFID标签读写器发射功率设置为20dBm。

本发明的另一方面，所述预定步长为0.25dBm。

本发明的另一方面，所述预定值为2dBm。

本发明获得了以下有益效果：

可对无源UHF RFID标签抗干扰能力进行测试。

附图说明

图1为本发明无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置的结构示意图；

图2为本发明无源UHF RFID标签抗干扰能力测试方法的流程框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。