[发明专利]数据处理方法、装置及设备、计算机可读存储介质有效
申请号: | 201711099961.2 | 申请日: | 2017-11-09 |
公开(公告)号: | CN109768826B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 任之良;陈雪;施社平;华锋;张彦 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司;北京邮电大学 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071 |
代理公司: | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力军 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据处理 方法 装置 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种数据处理方法,其特征在于,所述方法包括步骤:
接收光时域反射仪OTDR测量的光纤后向瑞利散射功率数据;
对所述OTDR测量的光纤后向瑞利散射功率数据进行平均处理和对数变换处理,得到第二OTDR曲线,并从所述第二OTDR曲线中获取到事件j及其发生的位置范围aj~bj;其中,j为正整数;
对所述OTDR测量的光纤后向瑞利散射功率数据进行平均处理、低通滤波处理以及对数变换处理,得到第一OTDR曲线,并从所述第一OTDR曲线中获取到事件i及其发生的位置范围ai~bi、以及可能事件n发生的位置范围an~bn;其中,i,n为正整数;
判断所述事件i是否存在于所述事件j中;
若所述事件i不存在于所述事件j中,则在所述事件i发生的位置范围ai~bi对事件i进行精确定位,并在所述可能事件n发生的位置范围an~bn对可能事件n进行精确定位,获得精确定位到的事件位置及其发生的位置范围;
若所述事件i存在于所述事件j中,则判断所述事件i是否全部存在于所述事件j中;若所述事件i全部存在于所述事件j中,则在所述可能事件n发生的位置范围an~bn对可能事件n进行精确定位,获得精确定位到的事件位置及其发生的位置范围;若所述事件i不全部存在于所述事件j中,则对不存在于事件j中的事件i,在其发生的位置范围ai~bi进行精确定位,并在所述可能事件n发生的位置范围an~bn对可能事件n进行精确定位,获得精确定位到的事件位置及其发生的位置范围;
其中,在所述事件i发生的位置范围ai~bi对所述事件i进行精确定位包括:将事件i初始化为一个事件数组;其中,该事件数组的长度为bi-ai+1,且所有事件数组元素的值均为1;在数据接收范围ai~bi内接收所述OTDR测量的光纤后向瑞利散射功率数据,并将每N次接收到的光纤后向瑞利散射功率数据进行平均处理后存储到预设数组L中;其中N为正整数;将所述预设数组L与所述事件数组相乘,并覆盖所述事件数组;若在覆盖后的事件数组中筛选出大于阈值ε的事件数组元素,则停止精确定位,并记录所有筛选出的事件数组元素的位置,将记录位置的中间位置作为事件位置,同时将记录位置的范围作为事件发生的位置范围。
2.根据权利要求1所述的一种数据处理方法,其特征在于,通过以下步骤获取到所述事件i及其发生的位置范围ai~bi:
获取所述第一OTDR曲线的斜率值;
若所述第一OTDR曲线的斜率值为正且超过预设阈值,则确定斜率值所在的点有反射事件发生,该反射事件发生的位置范围(ai~bi)为该点直至斜率恢复到正常范围内,该反射事件发生的位置范围(ai~bi)的中点为该反射事件的位置;
若所述第一OTDR曲线的斜率值为负且超过预设阈值,则确定斜率值所在的点有非反射事件发生,该非反射事件发生的位置范围(ai~bi)为该点直至斜率恢复到正常范围内,该非反射事件发生的位置范围(ai~bi)的中点为该非反射事件的位置。
3.根据权利要求1所述的一种数据处理方法,其特征在于,所述在所述事件i发生的位置范围ai~bi对所述事件i进行精确定位还包括步骤:
若在覆盖后的事件数组中未筛选出大于阈值ε的事件数组元素,则转到在所述数据接收范围ai~bi内接收所述OTDR测量的光纤后向瑞利散射功率数据,并将每N次接收到的光纤后向瑞利散射功率数据进行平均处理后存储到预设数组L中步骤并往下继续执行。
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