[发明专利]无源UHFRFID标签读写器测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID标签读写器测试方法。

背景技术

射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。

现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，其中标签读写器是配合无源UHF RFID工作的主要设备，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID标签读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID标签读写器流入终端领域，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID标签读写器测试方法。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种无源UHF RFID读写器测试方法，其中，提供一待测试RFID标签读写器，一射频信号分析装置以及一模拟RFID标签，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：

步骤1，选取一所述测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述待测试RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器向所述模拟RFID标签发送指令；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述模拟RFID标签通信过程中的射频信号；

步骤6，分析采集到的所述射频信号，判断所述待测试RFID标签读写器的工作状态；

步骤7，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤6，直至所有所述测试用例测试完毕。

本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。

本发明的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本发明的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为840.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。

本发明的另一方面，当所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz时，所述RFID标签读写器的工作信道为20个，每个所述工作信道的的带宽为250kHz，每个所述工作信道的中心频点为920.125MHz+0.25nMHz，n为0-19的整数。

本发明的另一方面，还提供一功分器，及一环形器，所述射频信号分析装置的输入接口及所述待测试RFID标签读写器分别连接所述功分器的输出接口，所述功分器的输入接口连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器还连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述模拟RFID标签。

本发明的另一方面，所述述射频信号分析装置的输入接口及所述RFID标签读写器通过馈线分别连接所述功分器的输出接口，所述功分器的输入接口通过馈线连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线还连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口通过馈线连接所述模拟RFID标签。

本发明的另一方面，所述测试项目包括读写器解调测试，读写器链接时序测试以及读写器指令集测试。

本发明获得了以下有益效果：

可对无源UHF RFID标签读写器进行协议有效性测试。

附图说明

图1为本发明无源UHF RFID标签读写器测试装置的结构示意图；

图2为本发明无源UHF RFID标签读写器测试方法的流程框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。