[发明专利]一种多普勒超声自动定位取样框的方法

权利要求书

1.一种多普勒超声自动定位取样框的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，采用超声成像设备，通过超声成像设备默认或人工预设一个取样框形状和尺寸；

步骤2，通过超声成像设备进行扫描，根据超声探头回波信号，生成扫描区域黑白超声图像；对扫描区域分割，分成M行N列一共M×N个格子，每个格子都小于取样框面积的1/2，某个格子则根据左上顶点定义为第(m,n)个格子；

步骤3，根据扫描区域图像计算取样框中的低亮度点数；将每个格子的左上顶点作为参照点，将取样框的左上顶点与格子的参照点重合；有M×N个格子，则有M×N个取样框选择，以格子左上顶点定义取样框的序号；预设一个阈值E₀，如果扫描区域中的像素点EE₀，则亮度低，将其计入低亮度像素点集，得到一个过滤掉高亮度区域的B超图像；计算每个对应取样框中低亮度像素点的总数目，得到一个低亮度像素点累计数值的p1(M,N)的二维数组，计算中定义超出扫描区域的部分像素点为0；获得p1(M,N)的二维数组后，最大值对应的取样框即为取样框1；

步骤4，将取样框1区域从点集中排除掉，以剩下的区域点集对每个格子顶点重复求得p2(m,n)，定义和取样框1重叠的区域像素点数也是0，完成整个p2(M,N)数组的统计后，同样取最大值来获得取样框2；

步骤5，重复步骤4的操作获得取样框3；得到取样框1、取样框2、取样框3后，分别定义为F1(m1,n1)，F2(m2,n2)，F3(m3,n3)，对应的低亮度像素点数值分别为p1(m1,n1)，p2(m2,n2)，p3(m3,n3)，且有p1(m1,n1)p2(m2,n2)p3(m3,n3)；

步骤6，根据选出的取样框1,取样框2,取样框3连续各做一次多普勒扫描，保存图像并进行彩色像素点数目统计；此时取样框重叠区域的像素点将重复计数，而不再去除掉；取三者当中的彩色像素点数最大值，则其对应的F1(m1,n1)，F2(m2,n2)，F3(m3,n3)之一则为初选取样框，定义为F(m,n)；

步骤7，对于已经获得初选的取样框F(m,n)，依据格子顶点，分别向上下左右移动一格，获得F(m-1,n)，F(m+1,n)，F(m,n-1)，F(m,n+1)这四个相邻取样框，分别加载多普勒超声，计算彩色像素点数目并进行比较，这里重叠区域也是重复计数的,若移动完毕后已经超出扫描区域，则此次移动不计，不需要参与彩超扫描，更无需参与统计比较；F(m,n)中心取样框彩色点数目最大，则最终确定F(m,n)为最终取样框；F(m,n)中心取样框的某个邻框最大，则更新为新的初选取样框；以新的初选取样框为中心取样框再次计算4个相邻取样框，直到所有相邻取样框的彩色像素点计数都低于中心取样框计数，选定此刻的中心取样框为最终取样框。

2.根据权利要求1所述的多普勒超声自动定位取样框的方法，其特征在于，扫描区域边缘的格子大于格子的平均尺寸。

3.根据权利要求2所述的多普勒超声自动定位取样框的方法，其特征在于，每个格子的面积为取样框面积的1/9-1/4之间。

4.根据权利要求3所述的多普勒超声自动定位取样框的方法，其特征在于，所述取样框为矩形、平行四边形或扇形。

5.根据权利要求4所述的多普勒超声自动定位取样框的方法，其特征在于，步骤5完成后，将取样框1、取样框2、取样框3分别和扫描区域对照，如已经超出扫描区域，则调整m，n到最近邻的取样框，作为后续步骤的取样框1、取样框2、取样框3。