[发明专利]面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置

权利要求书

1.一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：基于ATML模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；

步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；

步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序；

所述步骤2中生成自检逻辑具体包括：

步骤201：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤202：根据物理特性需求，给出第一层不同类型信号的自检顺序及可并行自检性，并同时给出在第一层同类型信号下，第二层不同种类信号的自检顺序及可并行自检性，经过整理得出所有信号的自检先后与并行顺序；

步骤203：在第三层中分别连接同种类的激励与测量信号；

步骤204：判断所述所有激励与测量信号的连接的两端是否包含需要自检的信号，若某一连接两端均不包含则跳转至步骤203删除该激励与测量信号的连接，若所有连接均有一端包含则继续；

步骤205：判断信号自检先后与并行顺序是否与物理特性需求相悖，若与相悖则跳转至步骤202调整信号自检先后与并行顺序，若不相悖则继续；

步骤206：从调整完毕的信号间关系生成自检逻辑。

2.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤2还包括：分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行步骤3。

3.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤1具体包括：

步骤101：提取ATML模型中信号等所需信息；

步骤102：将提取的所有信号分为三层，第一层分类依据是信号类型；第二层在第一层基础上继续分类，分类依据是信号种类；第三层在第二层基础上继续分类，分类依据是激励与测量信号；

步骤103：判断分层后信号是否满足分类依据与实际需求，若不满足则返回步骤102人工修改分层信号，若满足则继续；

步骤104：以信号为索引，利用已有的ATML模型，将连线关系从信号模型、仪器模型、测试站模型中提取并进行整体连接，打通测试站中仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线；

步骤105：判断测试站内部连线是否满足需求，若不满足则返回步骤104根据需求增加连线关系，若满足则结束。

4.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述生成自检逻辑包括：根据仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线在测试站内部建立空间关系；然后根据信号自检顺序将测试站内部以信号为索引建立时间关系，得到自检逻辑。

5.如权利要求2所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤2中生成动态适配器连线具体包括：

步骤207：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤208：利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，得到动态适配器连线；

步骤209：判断动态适配器连线是否可以满足每个需要自检的信号均有适配器端口分配且适配器端口不会被同种信号同时使用，若不满足则人工修改动态适配器连线，若满足则结束。

6.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤3具体包括：

步骤301：输入自检逻辑与动态适配器连线，得到完整连线关系；

步骤302：根据所述完整连线关系生成自检程序。

7.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述方法还包括步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。

8.一种面向信号的自动测试系统自检程序开发装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7任一项所述面向信号的自动测试系统自检程序开发方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述面向信号的自动测试系统自检程序开发方法。