[发明专利]一种LED显示屏基于参照物的校正方法

说明书

本发明涉及一种LED显示屏基于参照物的校正方法，该方法通过制作校正参照物，将多个待校正显示屏依次与参照物组成新的待校正显示屏，对多个新待校正显示屏进行依次独立的采集校正，并以参照物的校正系数为基准，修正多个待校正显示屏的校正系数，并将修正后的校正系数作为待测显示屏最终的校正系数。本发明使每一次的独立校正都具有同一个有效光学参照物，具有光学传递特性，可以实现多个显示屏校正后的任意拼接，解决了单箱校正再拼接效果不好的难题，同时极大地提高了校正效率，适合工程应用。

技术领域

本发明属于LED采集校正技术领域，涉及一种LED显示屏的亮色度校正新方法。

背景技术

随着LED显示屏市场的不断发展，LED显示屏的应用需求也在不断涌现。现有的LED显示领域已经实现了大面积、高亮度、高色域等显示要求，成为多媒体显示的重要载体。显示质量是LED显示屏好坏的重要参数，是影响显示领域发展的主要因素。目前，主要通过采集校正的方法提高显示屏的显示质量，其主要是利用采集相机对LED显示屏进行整屏的逐点采集校正，从而达到提升显示质量的目的。但是，随着光芯片和集成电路的快速发展，LED显示技术向着超高密度，超小间距，超大尺寸方向快速发展，显示屏像素数量越来越大，对显示效果要求越来越高，这就对采集校正提出了更高要求。但是由于受到采集相机分辨率的限制，采集环境的影响，目前对高密度，大尺寸的显示屏存在极大的难度，主要体现在如下几点：(1)相机无法一次性采集所有像素点，需采用分区校正方法，且每次采集的像素点数量大，提高了校正时间的同时，增加了校正的难度；(2)像素点数量巨大，相机调节难度大，容易出现欠采样问题导致校正后出现摩尔纹和麻点现象；(3)对采集环境要求很大，需要远距离采集，易受到周围环境的影响。所以目前的整屏采集校正方法在高密度、大尺寸显示屏上受到诸多限制，不仅耗时长，而且校正效果也无法保证，严重影响效率和显示质量。

为了解决上述问题，目前主要方法是将高密度、大尺寸显示屏拆分成不同的高密度、小尺寸显示屏，独立采集校正每个高密度、小尺寸显示屏，最后再拼接成高密度、大尺寸显示屏(相当于单箱校正再拼接的过程)。但是由于独立采集校正过程中，小尺寸显示屏没有有效的参照物，其光学特性不具有传递性，使每次经独立采集校正后的显示屏存在显示特性不一致的问题，最终导致拼接而成的高密度、大尺寸显示屏以小尺寸显示屏为单位存在着明显的光学过渡现象，无法实现无缝拼接，严重破坏显示效果，同时也是单箱校正实现的主要难题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种LED显示屏基于参照物的校正方法，该方法以参照物的校正系数为基准修正不同待校正显示单元的校正系数，多个校正后的显示单元拼接成LED显示屏后显示效果无过渡现象。

为了解决上述技术问题，本发明的LED显示屏基于参照物的校正方法,包括下述步骤：

步骤一、将至少一个显示单元作为待校正显示屏；设待校正显示屏数量为 k，i＝1,2,3.....k，k≥1；针对任一待校正显示屏B_i，首先将待校正显示屏B_i与参照物拼接在一起形成一个新显示屏C_i；控制新显示屏C_i显示待校正图像，利用校正设备对新显示屏C_i进行采集校正并计算得到校正系数D_i；

步骤二、将校正系数D_i按照参照物和待校正显示屏分成两组Da_i和Db_i，其中Da_i为参照物的校正系数组，Db_i为待校正显示屏的参考系数组；设参照物的像素数量为MA，待校正显示屏的像素数量为MB；通过公式(1)求得参照物上所有像素校正系数的均值Dacer_i：

其中Da_im为参照物上任一像素的校正系数，1≤m≤MA；