[发明专利]检测装置有效

专利信息
申请号: 201711113032.2 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN109786399B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 陈宇珩 申请(专利权)人: 睿生光电股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G01J1/44
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨泽;刘芳
地址: 中国台湾南部科学园*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【说明书】:

发明提供一种检测装置,其包括:基板,具有第一表面及第二表面,第一表面与第二表面相对设置;开关元件,设置于第一表面上;感光元件,设置于第一表面上且与开关元件电性连接;以及第一线路,设置于第二表面上,其中基板具有第一导通孔,开关元件透过第一导通孔与第一线路电性连接。

技术领域

本发明是有关于一种检测装置及其制造方法,特别是有关于光检测装置及其制造方法。

背景技术

光检测装置普遍应用于手机、平板电脑或笔记型电脑等电子装置中。此外光检测装置也广泛应用于医疗诊断辅助工具,例如,X光检测装置(X-ray detector)应用于人体乳房组织或心血管的摄影等。X光检测装置主要包含光电二极管(photodiode)以及薄膜晶体管(thin-film transistor,TFT),其中光电二极管可作为将光能转换成电子信号的感测元件,而薄膜晶体管可作为读取电子信号及控制像素驱动的开关元件。

在光检测装置中,电子信号会直接地影响产生的影像品质,因此,降低噪声(noise)的干扰为提升光检测装置的影像品质的有效方式。噪声可能源自于薄膜晶体管的栅极与资料线(data line)之间所产生的电容、资料线与扫描线(scanning line)之间所产生的电容、漏极及源极与栅极之间产生的电容、或者是资料线、扫描线、漏极、源极、栅极元件的自身所产生的电阻等。其中,资料线的电阻及其与其它元件产生的电容为噪声的主要来源之一。理论上,可借由降低资料线本身的电阻,如选用低电阻值的材料或增加资料线的厚度来减少噪声的产生,或可借由降低资料线与其它元件之间的电容,如减少资料线的宽度、增加资料线与光电二极管的距离等来减少噪声的产生。然而,上述降低噪声的方式可能会影响光检测装置的有效面积降低,其存在权衡关系。

因此,如何降低光检测装置中的噪声产生,且降低光检测装置的效能,乃目前业界所致力的课题之一。

发明内容

在一些实施例中,本发明提供一种检测装置,其包括:一基板,具有一第一表面及一第二表面,该第一表面与该第二表面相对设置;一开关元件,设置于该第一表面上;一感光元件,设置于该第一表面上且与该开关元件电性连接;以及一第一线路,设置于该第二表面上,其中该基板具有一第一导通孔,该开关元件透过该第一导通孔与该第一线路电性连接。

在另一些实施例中,本发明提供一种监测装置,其包括:一基板,具有一第一表面及一第二表面,该第一表面与该第二表面相对设置;一开关元件,设置于该第二表面上;以及一感光元件,设置于该第一表面上,其中该基板具有一第一导通孔,该开关元件透过该第一导通孔与该感光元件电性连接。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明,其中:

图1A根据本发明一些实施例中,检测装置局部结构的剖面示意图;

图1B根据本发明一些实施例中,检测装置的上视示意图;

图2A根据本发明一些实施例中,检测装置局部结构的剖面示意图;

图2B根据本发明一些实施例中,检测装置的上视示意图;

图3根据本发明一些实施例中,检测装置局部结构的剖面示意图;

图4A至4C根据本发明一些实施例中,检测装置中线路与导电垫连接方式的示意图;

图5A至5J根据本发明一些实施例中,检测装置在制程中不同阶段的局部结构的剖面示意图。

符号说明:

100、300、500 检测装置

102 基板

102a 第一表面

102b 第二表面

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