[发明专利]一种单片微波集成电路中静电防护结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201711113846.6 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107994015B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 魏鸿基;许燕丽;王江;朱庆芳 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/82
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭;张迪
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 单片 微波集成电路 静电 防护 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种单片微波集成电路中静电防护结构,其特征在于:在晶体管的基区-发射区、基区-集电区之间分别并联设置有呈背对背结构设置的二极管组;每一个所述二极管组中包括两个二极管,所述两个二极管制备在生长晶体管的外延片上,利用外延片上已有的基区-发射区、基区-集电区,形成阳极相互连接或者阴极相互连接形成背对背结构。

2.根据权利要求1所述的一种单片微波集成电路中静电防护结构,其特征在于:所述晶体管为HBT管。

3.一种单片微波集成电路中静电防护结构,其特征在于:包括至少一个制备在外延片上的晶体管,在外延片上制备有独立于所述晶体管的两个二极管;两个二极管共用一个阻挡层,并且两个二极管分别具有依次层叠设置在阻挡层上的收集层、基极层和发射层;两个二极管彼此的收集层、基极层和发射层相互独立设置,形成阴极相互连接的背对背二极管组;

其中一个二极管的阳极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阳极连接至晶体管的集电区;或者,其中一个二极管的阳极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阳极连接至晶体管的发射区。

4.一种单片微波集成电路中静电防护结构,其特征在于:包括至少一个制备在外延片上的晶体管,在外延片上制备有独立于所述晶体管的两个二极管;两个二极管共用阻挡层、收集层和基极层,并且两个二极管分别具有层叠设置在基极层上的发射层;两个二极管彼此的发射层相互独立设置,形成阳极相互连接的背对背二极管组;

其中一个二极管的阴极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阴极连接至晶体管的集电区;或者,其中一个二极管的阴极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阴极连接至晶体管的发射区。

5.根据权利要求3或4所述的一种单片微波集成电路中静电防护结构,其特征在于:所述晶体管为HBT管。

6.一种单片微波集成电路中静电防护结构的制造方法,其特征在于包括如下步骤:

1)在外延片上通过化学腐蚀过程或者干法刻蚀制备出至少一个晶体管,所述外延片在晶体管以外的区域还具有阻挡层、收集层、基极层和发射层;

2)通过化学腐蚀过程或者干法刻蚀在所述阻挡层、收集层、基极层和发射层中制备两个二极管,两个二极管共用阻挡层、收集层和基极层,并且两个二极管分别具有层叠设置在基极层上的发射层;两个二极管彼此的发射层相互独立设置,形成阳极相互连接的背对背二极管组;

3)通过金属连线,将其中一个二极管的阴极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阴极连接至晶体管的集电区;或者,其中一个二极管的阴极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阴极连接至晶体管的发射区。

7.一种单片微波集成电路中静电防护结构的制造方法,其特征在于包括如下步骤:

1)在外延片上通过化学腐蚀过程或者干法刻蚀制备出至少一个晶体管,所述外延片在晶体管以外的区域还具有阻挡层、收集层、基极层和发射层;

2)通过化学腐蚀过程或者干法刻蚀在所述阻挡层、收集层、基极层和发射层中制备两个二极管,两个二极管共用一个阻挡层;两个二极管彼此的收集层、基极层和发射层相互独立且层叠设置在阻挡层上,形成阴极相互连接的背对背二极管组;

3)通过金属连线,将其中一个二极管的阳极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阳极连接至晶体管的集电区;或者,其中一个二极管的阳极连接至晶体管的基区,另一个二极管的阳极连接至晶体管的发射区。

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