[发明专利]整鞋有效跟高测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，包括底座、鞋尖挡板、工作台、支撑梁、鞋跟量爪、有效跟高尺和活动架，所述鞋尖挡板和所述工作台相对地设于所述底座上，所述工作台可在所述底座上前后滑动用于靠近或远离所述鞋尖挡板，所述支撑梁立设于所述工作台上，所述鞋跟量爪上下滑动设于所述支撑梁面向所述鞋尖挡板的一侧，所述有效跟高尺包括相连接的竖直量尺段和水平延伸段，所述竖直量尺段上下滑动设于所述支撑梁背离所述鞋尖挡板的一侧，且所述竖直量尺段设置有效刻度表，所述活动架设于所述鞋尖挡板与所述支撑梁之间，所述活动架与所述水平延伸段连接且可相对于所述水平延伸段前后移动，所述活动架包括可伸入鞋前帮内侧的弧形杆，所述弧形杆的末端与所述有效刻度表的起点位于同一高度；所述底座的上方设有定位杆，所述定位杆设于所述活动架上，所述弧形杆的末端与所述定位杆上下正对，在测量时，所述鞋前帮位于所述定位杆与所述弧形杆之间。

2.根据权利要求1所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，所述活动架还包括相连接的竖直连接杆，所述竖直连接杆的一端与所述弧形杆连接所述竖直连接杆与所述水平延伸段滑动配合。

3.根据权利要求2所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，所述活动架还包括水平连接杆，所述水平连接杆的一端与所述竖直连接杆连接，所述水平连接杆的另一端与所述定位杆活动连接。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，所述支撑梁上设有沿着高度方向设置的主刻度表。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，所述弧形杆的末端设有球状物。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，还包括设于所述底座上的两个前掌侧挡板，所述鞋尖挡板和所述工作台沿着所述底座的纵向相对设置，两个所述前掌侧挡板沿着所述底座的横向相对设置，且两个所述前掌侧挡板与所述底座滑动配合，两个所述前掌侧挡板可相互靠近或相互远离，所述鞋尖挡板、所述前掌侧挡板和所述工作台沿着所述底座的纵向依次布置。

7.根据权利要求6所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，所述前掌侧挡板包括与所述底座滑动配合的基座以及与所述基座滑动配合的挡块，所述挡块可沿着所述底座的纵向相对于所述基座滑动。

8.根据权利要求6所述的整鞋有效跟高测量装置，其特征在于，还包括设于所述底座上的两个鞋跟侧挡板，两个所述鞋跟侧挡板沿着所述底座的横向相对设置，且两个所述鞋跟侧挡板与所述底座滑动配合，两个所述鞋跟侧挡板可相互靠近或相互远离，所述鞋尖挡板、所述前掌侧挡板、所述鞋跟侧挡板和所述工作台沿着所述底座的纵向依次布置。

9.一种整鞋有效跟高测量方法，其特征在于，采用如权利要求1至8中任一项所述的整鞋有效跟高测量装置，包括以下步骤：

向上滑动有效跟高尺，带动活动架上移，为整鞋放置避让空间；

将整鞋放置于鞋尖挡板和工作台之间，鞋尖与鞋尖挡板接触；

向鞋跟的方向滑动工作台，同时向上滑动鞋跟量爪，使得鞋跟量爪搭在鞋跟的顶端；

向下移动有效跟高尺，使得活动架上的弧形杆伸入鞋内，同时移动活动架，直至弧形杆的末端接触跖趾屈挠部位；

读取鞋跟量爪在有效跟高尺上的刻度，即为整鞋的有效跟高值。

10.根据权利要求9所述的整鞋有效跟高测量方法，其特征在于，将整鞋放置于鞋尖挡板和工作台之间，鞋尖与鞋尖挡板接触的步骤具体为：

将整鞋放置于鞋尖挡板和工作台之间，两个鞋跟侧挡板将鞋跟夹紧，滑动鞋尖挡板顶住鞋尖，再滑动两个前掌侧挡板靠近前掌，同时滑动前掌侧挡板的挡块，使得挡块夹紧前掌两侧的最宽处。