[发明专利]一种半封闭型圆孔测量装置具及其测量方法

说明书

本发明公开了一种半封闭型圆孔测量装置，其包括：机架、安装在机架上方的第一环形光源组件、安装在机架左侧的第二环形光源组件、安装在机架右侧的第三环形光源组件、以及设置在第一环形光源组件下方的条形光源，所述条形光源位于第二环形光源组件和第三环形光源组件之间。半封闭型圆孔测量装置可以准确获取被底面四周遮挡边遮盖的半封闭圆孔的直径尺寸，在不剖切待测物料的前提下进行精确测量，可大大降低人力、物力的浪费；可以提升测量精度，更好的控制品质。本发明还公开了一种半封闭型圆孔测量方法。

技术领域

本发明涉及一种半封闭型圆孔测量装置及其测量方法。

背景技术

一种半封闭型圆孔检测存在的问题和缺点：对于底面四周有遮挡边圆孔特征检测，传统的检测工艺无法做到无伤检测；一般的检测工艺为：将待测料件剖切去除遮挡边后，再进行正向打光测试。这种工艺的缺点在于：1.由于待测物料底面四周有遮挡边，无法做到正面拍照测量，需要将待测物料剖切；2.由于对物料造成破坏，待测尺寸变化不可预估；3.浪费物料、增加人工、物资成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于：提供一种半封闭型圆孔测量装置，其结构简单，能够实现螺丝上锁功能。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种半封闭型圆孔测量装置，其包括：机架、安装在机架上方的第一环形光源组件、安装在机架左侧的第二环形光源组件、安装在机架右侧的第三环形光源组件、以及设置在第一环形光源组件下方的条形光源，所述条形光源位于第二环形光源组件和第三环形光源组件之间。

与现有技术相比，本发明有益效果如下：半封闭型圆孔测量装置可以准确获取被底面四周遮挡边遮盖的半封闭圆孔的直径尺寸，在不剖切待测物料的前提下进行精确测量，可大大降低人力、物力的浪费；可以提升测量精度，更好的控制品质，由于是非接触式测量，受操作者影响小，测量效率高；在不损伤物料的前提下可以对正面被遮挡的半封闭圆孔进行精确测量，完成测量后的物料可以继续使用，减少物资的浪费。

本发明所要解决的另一技术问题在于：提供一种半封闭型圆孔测量方法，其结构简单，能够实现螺丝上锁功能。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种半封闭型圆孔测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)提供机架、安装在机架上方的第一环形光源和第一相机、安装在机架左侧的第二环形光源和第二相机、安装在机架右侧的第三环形光源和第三相机、以及设置在第一环形光源下方的条形光源，所述条形光源位于第二环形光源和第三环形光源之间；

(2)打开第一环形光源、条形光源将待测物料打亮，第一相机拍取正面图像，用于拟合计算半封闭圆孔的厚度；

(3)打开第二环形光源、条形光源，第二相机用于避让底部挡边并拍取成一定角度的图片，拟合计算圆孔的直径；

(4)打开第三环形光源、条形光源，第三相机用于避让底部挡边并拍取成一定角度的图片。

与现有技术相比，本发明有益效果如下：半封闭型圆孔测量方法可以准确获取被底面四周遮挡边遮盖的半封闭圆孔的直径尺寸，在不剖切待测物料的前提下进行精确测量，可大大降低人力、物力的浪费；可以提升测量精度，更好的控制品质，由于是非接触式测量，受操作者影响小，测量效率高；在不损伤物料的前提下可以对正面被遮挡的半封闭圆孔进行精确测量，完成测量后的物料可以继续使用，减少物资的浪费。

附图说明

图1为本发明的半封闭型圆孔测量装置的立体图。

图2为如图1所示半封闭型圆孔测量装置的另一视角立体图。

图3为如图1所示半封闭型圆孔测量装置的正视图。