[发明专利]图形化的SV虚端子自动测试系统在审

专利信息
申请号: 201711121889.9 申请日: 2017-11-14
公开(公告)号: CN107976607A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 吴强;林道鸿;万信书;李东升 申请(专利权)人: 海南电网有限责任公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 陈欢
地址: 570100 海*** 国省代码: 海南;46
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摘要:
搜索关键词: 图形 sv 端子 自动 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及智能变电站虚端子测试领域,尤其涉及一种图形化的SV虚端子自动测试系统。

背景技术

自国家电网公司组织推进智能电网战略以来,基于IEC 61850标准的智能变电站在我国电网的快速应用,我国已成为目前智能变电站投运数量最多的国家。智能变电站二次系统基于SCD展开,采用“三层两网”架构,增加了合并单元、智能终端、交换机等,数字化的光纤接线取代了传统的电缆接线,SV虚端子取代了常规的电缆线输出的电压电流,针对SV虚端子的测试已经必不可少。

现有测试SV虚端子的方法,需要测试人员熟悉数字化测试仪IEC61850的配置方法并手动配置数字化测试仪的配置文件,手动控制测试仪输出对应电压电流值并在IED装置面板查看实际测量值是否与输出值一致。图形化的SV虚端子自动测试模块能够根据SV虚端子测试方案文件,自动根据测试方案文件的测试流程执行测试并生成标准报告,极大的提高了SV虚端子测试的效率。

发明内容

鉴以此,本发明的发明目在于提供一种图形化的SV虚端子自动测试系统,解决目前针对SV虚端子测试需要人工配置测试装置的配置文件并需要人工查看装置测量值,导致效率低的问题。

一种图形化的SV虚端子自动测试系统,包括自动测试方案生成单元、图形化自动测试控制单元、被测IED装置和数字保护测试装置,所述自动测试方案生成单元与所述图形化自动测试控制单元数据相通,所述被测IED装置和数字保护测试装置分别和所述图形化自动测试控制单元数据相通,所述被测IED装置与数字保护测试装置信号相连。

优选地,所述自动测试方案生成单元包括SCD文件解析模块、IED装置数据模块、IEC61850配置模块和SVIN与遥测智能对应模块,

所述SCD文件解析模块与所述IED装置数据模块相连,所述IED装置数据模块分别与所述IEC61850配置模块和SVIN与遥测智能对应模块相连,

所述SCD文件解析模块用于读取并解析SCD文件,分析SCD文件并读取所有IED装置的SV输出信息、SV输入信息、遥测数据集;

所述IED装置数据模块用于根据SCD文件的解析结果生成IED装置配置文件;

所述IEC61850配置模块用于根据每个IED装置的SV虚链接信息,生成数字测试保护装置IEC61850配置文件,所述配置文件中描述了数字测试模拟SV报文输出的规则;

所述SVIN与遥测智能对应模块用于分析被测IED装置各个SV输入端子的名称和IED装置的遥测数据集中各个数据对象的名称,为SV输入端子和遥测数据对象建立一一对应关系。

优选地,所述图形化自动测试控制单元,用于实现智能变电站IED装置之间虚链接的图形化以及SV虚端子测试结果的图形化、SV虚端子测试报告生成、SV虚端子自动测试过程控制、数字保护测试装置测试功能调用和MMS通讯命令处理,所述图形化自动测试控制单元包括测试控制模块、61850MMS通讯模块和测试装置接口模块,

所述测试控制模块分别与所述IEC61850配置模块、SVIN与遥测智能对应模块、61850MMS通讯模块和测试装置接口模块相连接,

所述61850MMS通讯模块与所述被测IED装置相连,用于实现与被测IED装置通讯,读取测量数据集的数据,并根据被测IED装置虚链接的SV输入通道的名称和通道类型,从测量数据集中智能选取对应的测量数据值;

所述测试装置接口模块与所述数字测试保护装置相连,用于实现与数字保护测试装置通讯;

所述测试控制模块用于根据自动测试方案,遍历每个被测IED装置,依次测试每个被测IED装置的SV输入虚端子,测试过程为:调用测试装置接口模块控制数字测试保护装置输出SV报文,调用61850MMS通讯模块从被测IED装置读取并智能选取对应的测量值数据,根据输出的通道数值和测量值数据,判断虚链接是否正确,并在测试完成后生成SV虚端子测试报告。

优选地,所述智能变电站IED装置之间虚链接的图形化,即所述图形化自动测试控制模块根据SCD文件解析数据,将所有IED装置根据电压等级和装置类型进行分类组织并图形化展示,对于IED装置之间的SV虚端子链接信息,采用箭头连线表示输出端和接收端,采用不同的颜色区分虚端子链接测试的结果信息。

优选地,所述SV虚端子测试结果的图形化,即所述图形化自动测试控制单元根据最终测试完成后生成的SV虚端子测试报告进行图形化展示。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

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