[发明专利]一种光模块、光器件状态监控系统在审
申请号: | 201711122938.0 | 申请日: | 2017-11-14 |
公开(公告)号: | CN107966269A | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 周忠山;刘小煜;敬良才;黄首甲;张宏斌;谢家宝;田勇;黄安珠 | 申请(专利权)人: | 东莞铭普光磁股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;H04B10/27 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 523343 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模块 器件 状态 监控 系统 | ||
技术领域
本发明实施例涉及光模块、光器件制作测试技术领域,特别是涉及一种光模块、光器件状态监控系统,光模块、光器件温度循环测试系统及光模块、光器件老化测试系统。
背景技术
随着光通信技术的发展,市场上对光模块、光器件的需求量越来越大,低成本、高质量是人们不断的追求,也就迫使光通信元器件制造厂商需要不断改进工艺,以制造大量高质量、低成本的光模块和光器件。相应的,就需要设计制造出能同时监控大批量光模块或光器件工作状态的老化、温度循环测试的设备。
现有技术中,光模块、光器件制造厂商一般采用USB或I2C通信信道的切换技术,可实现一台主机与几百个光模块、光器件、光器件同时通信的问题,但很难解决一台主机与几十万个光模块、光器件、光器件同时通信的难题,如果用多台主机来监控,整个测试系统的成本很高。
此外,使用USB或I2C技术,数据无法进行远传,在进行光模块、光器件的测试时,只能把主机放置在恶劣的测试环境中,例如高温、干燥的老化房,或高低温试验箱中。且通信线路易受到干扰,导致通信速率不高,查询或扫描一次所有的被测光模块、光器件或光器件用时过长,不能实现真正实时监控。
鉴于此,如何实现通过一台主机对大批量大规模光模块、光器件(不少于十几万只)的工作状态进行实时监控的低成本测试系统,是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种光模块、光器件状态监控系统,实现了通过一台主机对大批量大规模光模块、光器件(不少于十几万只)的工作状态进行实时监控,并降低了整个监控过程的成本。使用本申请技术方案制造的温度循环测试系统及光模块、光器件老化测试系,成本低、简单实用,方便测试员工使用,在一定程度上降低了整个光模块、光器件的制造成本。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供以下技术方案:
本发明实施例一方面提供了一种光模块、光器件状态监控系统,包括:
一台主机、多个测试板、多个待测光模块或光器件及用于固定各测试板的固定装置;
所述主机分别与每个测试板通过两条双绞线相连,组成RS485总线网络,所述主机与各测试板采用带地址、固定字节长度的通信协议通信,各测试版对应的通信地址不同;
每个测试板包括主MCU、副MCU及多个连接器,所述主MCU用于与所述主机进行组网通信;所述副MCU用于监控测试各待测光模块或光器件的性能参数,并进行通信,以获取各待测光模块或光器件的运行状态监控信息;
每个测试板与预设个数的待测光模块或光器件相连;各测试板间电气并联,与所述主机组成总线网络;测试板的个数由单个测试板连接器的个数与待测光模块或光器件的个数决定。
可选的,所述测试板包括多个转接板,各转接板通过连接器与测试板相连;
每个转接板上设置有子连接器,所述子连接器用于与待测光模块或光器件相连;
每个测试板对应的转接板的个数不大于相应测试板的连接器的个数。
可选的,所述测试板包括32个转接板,每个转接板上设置一个子连接器。
可选的,所述固定装置包括多孔固定板和固定支架,所述多孔固定板用于固定加强测试板,所述固定支架用于承载多个设置有测试板及各待测光模块或光器件的多孔固定板。
可选的,所述多孔固定板为多孔不锈钢板。
可选的,还包括:
数据服务器,所述数据服务器与所述主机通过网线相连,用于存储所述主机发送的各待测光模块或光器件的运行状态监控信息。
可选的,还包括:
报警装置,与所述主机相连,用于根据所述主机发送的报警指令进行报警,所述报警指令为所述主机根据接收到的各待测光模块或光器件的运行状态监控信息,监控到运行异常的光模块或光器件时发送的指令。
可选的,多个测试板的物理硬件结构相同。
本发明实施例另一方面提供了一种光模块、光器件温度循环测试系统,采用如前任意一项所述光模块、光器件状态监控系统,副MCU获取各待测光模块或光器件的温度参数运行状态监控信息。
本发明实施例最后还提供了一种光模块、光器件老化测试系统,采用如前任意一项所述光模块、光器件状态监控系统,副MCU获取各待测光模块或光器件的老化参数运行状态监控信息。
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