[发明专利]二维表层模型构建方法及获得二维测线控制点的方法

权利要求书

1.一种二维表层模型构建方法，其特征在于，所述构建方法包括以下步骤：

求取二维测线网中第一测线与第二测线的控制点，所述第一测线为二维测线网中的任一测线，所述第二测线为二维测线网中的另一测线；

利用所述控制点对所述二维测线网进行建模，得到能够提高精确度的二维表层模型，其中，

所述求取二维测线网中第一测线与第二测线的控制点的步骤包括以下子步骤：

对第一测线和第二测线分别进行拐点搜索处理，得到第一测线拐点和第二测线拐点，所述第一测线拐点包括第一测线的两个端点，所述第二测线拐点包括第二测线的两个端点；

利用所述第一测线拐点与所述第二测线拐点，计算得到第一测线与第二测线的交点；

求取第一测线上所述交点的成果，作为第一成果，求取第二测线上所述交点的成果，作为第二成果，对第一成果和第二成果进行平均处理，得到第一测线与第二测线共用的交点成果，作为第一测线与第二测线的控制点，

其中，所述计算得到第一测线与第二测线的交点的子步骤包括以下步骤：

将第一测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第一子线段，将第二测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第二子线段，将第一子线段与第二子线段的交点作为临时交点；

利用临时交点的坐标获得离该临时交点最近的4个测点，并利用所述4个测点计算得出精确交点作为第一测线与第二测线的交点；

判断所述精确交点的位置是否位于所述4个测点的坐标范围之内，若是，则将所述精确交点作为第一测线与第二测线的交点，若否，则利用第一测线的测点数据与第二测线的测点数据直接求取第一测线与第二测线的交点。

2.根据权利要求1所述的二维表层模型构建方法，其特征在于，所述拐点搜索处理的子步骤通过提取第一测线上超过设定偏移量的测点形成第一测线拐点，并通过提取第二测线上超过设定偏移量的测点形成第二测线拐点。

3.根据权利要求2所述的二维表层模型构建方法，其特征在于，所述拐点搜索处理的子步骤通过控制所述设定偏移量的大小来控制第一测线拐点和第二测线拐点的数量分别为3～7个。

4.一种获得二维测线控制点的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

对第一测线和第二测线分别进行拐点搜索处理，得到第一测线拐点和第二测线拐点，所述第一测线拐点包括第一测线的两个端点，所述第二测线拐点包括第二测线的两个端点；

利用所述第一测线拐点与所述第二测线拐点，计算得到第一测线与第二测线的交点；

求取第一测线上所述交点的成果，作为第一成果，求取第二测线上所述交点的成果，作为第二成果，对第一成果和第二成果进行平均处理，得到第一测线与第二测线共用的交点成果，作为第一测线与第二测线的控制点，

所述计算得到第一测线与第二测线的交点的步骤包括以下步骤：

将第一测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第一子线段，将第二测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第二子线段，将第一子线段与第二子线段的交点作为临时交点；

利用临时交点的坐标获得离该临时交点最近的4个测点，并利用所述4个测点计算得出精确交点作为第一测线与第二测线的交点；

判断所述精确交点的位置是否位于所述4个测点的坐标范围之内，若是，则将所述精确交点作为第一测线与第二测线的交点，若否，则利用第一测线的测点数据与第二测线的测点数据直接求取第一测线与第二测线的交点。

5.根据权利要求4所述的获得二维测线控制点的方法，其特征在于，所述拐点搜索处理的步骤通过提取第一测线上超过设定偏移量的测点形成第一测线拐点，并通过提取第二测线上超过设定偏移量的测点形成第二测线拐点。

6.根据权利要求5所述的获得二维测线控制点的方法，其特征在于，所述拐点搜索处理的步骤通过控制所述设定偏移量的大小来控制第一测线拐点和第二测线拐点的数量分别为3～7个。