[发明专利]有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法

说明书

本发明公开了一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法，包括，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于待测试标签读写器的天线端口的带外辐射值；根据所述带外辐射功率值计算所述待测试标签读写器的带外辐射功率。本发明获得了以下有益效果：可对有源UHF RFID标签读写器的带外辐射功率进行有效的测试。

技术领域

本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法。

背景技术

射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。

现有的射频标签技术中，有源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对有源UHF RFID标签及读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源UHF RFID标签及读写器被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法，其中，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：

步骤1，选取一所述测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；

步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；

步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于待测试标签读写器的天线端口的带外辐射值；

步骤7，根据所述带外辐射功率值计算所述待测试标签读写器的带外辐射功率；

步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。

本发明的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。

本发明的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。

本发明的另一方面，还提供一上位机及一环形器，所述RFID标签连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置连接所述环形器的第二端口，所述待测试标签读写器连接所述环形器的第三端口，所述上位机信号连接所述待测试标签读写器。

本发明的另一方面，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器带外辐射功率的方法为，所述待测试标签读写器的带外辐射功率等于所述带外辐射值减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。