[发明专利]基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器有效
申请号: | 201711126956.6 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN108089217B | 公开(公告)日: | 2023-06-13 |
发明(设计)人: | 朱九匡;易涛;江少恩 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00 |
代理公司: | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人: | 王玉杰 |
地址: | 621900*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 迈克 干涉仪 射线 探测器 | ||
本发明公开了一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。本发明可以有效避免电磁干扰,并能够对X射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。
技术领域
本发明涉及光学元件装配辅助装置,具体涉及基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器。
背景技术
在等离子体相关实验与实际应用场景中,X射线是重要的诊断工具和探测对象,而有的实验关键过程持续时间仅为几十到几百皮秒,因此对X射线进行高速探测有着重要意义。在实验过程中,传统诊断仪器和设备通常是使用电信号进行诊断,即射线辐射半导体,产生相应的电信号,通过电信号的变化得出X射线的变化进而获取相应的物态信息,诊断过程中容易受到电磁干扰,从而影响诊断结果的准确性。并且,由于以电信号为媒介,现有设备也难以实现对X射线的高速探测。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,能够有效避免电磁干扰,并且可以对X射线进行高速探测。
其技术方案如下:
一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片,由锥形筒引入的X射线能够辐照到该半导体材料片上;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,用于连接探针光光源,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。
上述结构利用半导体材料片3受到X射线辐照时的光学特性变化,进行X射线探测诊断,相比传统以电信号为媒介的探测器,能够有效避免电磁干扰,提高诊断结果的准确性,同时,由于使用光来进行诊断,能够满足X射线的高速探测需要。
为保证半导体材料片的反射性能,所述半导体材料片正对分光器件的一侧表面镀有铝。
所述锥形筒内置有可以遮挡可见光,同时透过X射线的遮光板,以避免可见光对探测结果造成影响。
所述半导体材料片经封装后可拆卸地安装在探测器外壳外壁上,这样能够方便半导体材料片的更换。
所述分光器件优选为分光棱镜或分光片,以确保其具有稳定可靠的分光性能。
半导体材料片的材质优选为砷化镓或硅。
有益效果:
采用以上技术方案的基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,可以有效避免电磁干扰,并能够对X射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明的使用状态参考图。
具体实施方式
以下结合实施例和附图对本发明作进一步说明。
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