[发明专利]一种电容式触摸感应装置的性能测试方法

权利要求书

1.一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,其特征在于，

对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器在触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；

若所述N个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值均大于等于预设阈值D0，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格；

其中，所述预设阈值的确定方法是：

选取P个电容式触摸感应装置作为样本，且每一个样本的第一个电容传感器损坏，其余电容传感器正常；

对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；

从P个样本中的第一个电容传感器的样本差值中选取最大值Max(1)，从P个样本中的第2～N个电容传感器的样本差值中选取最小值Min(2～N)；

确定预设阈值D0，所述预设阈值D0介于Max(1)与Min(2～N)之间。

2.根据权利要求1所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，所述预设阈值D0为Max(1)与Min(2～N)的中间值。

3.根据权利要求1或2所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述未触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在无触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据。

4.根据权利要求3所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据。

5.一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,其特征在于，

对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器在触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；

根据每一个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值以及预先确定的差值最大值，计算每一个电容传感器的偏离度，若所述N个电容传感器的偏离度均在预设偏离度阈值范围内，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格；

其中，所述预设偏离度阈值范围的确定方法是：

选取P个合格的电容式触摸感应装置作为样本；

对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；

从P个样本中的每一个电容传感器的样本差值中选取最大值，作为所述的差值最大值；

将每一个样本中的第i个电容传感器的样本差值分别除以所述差值最大值，计算出P个偏离度值，从所述P个偏离度值中选取最小值和最大值，确定出第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i。