[发明专利]一种基于虚拟仪器的晶体三极管输出特性曲线图示仪

权利要求书

1.一种基于虚拟仪器的晶体三极管输出特性曲线图示仪，其特征在于，包括上位机(100)、LabVIEW板卡(200)、缓冲级(300)和硬件测量电路(400)，所述LabVIEW板卡(200)包括D/A转换模块(210)、DIO信号模块(220)和A/D转换模块(230)，

所述上位机(100)与所述LabVIEW板卡(200)通信连接，所述D/A转换模块(210)通过所述缓冲级(300)与所述硬件测量电路(400)的输入端连接，所述硬件测量电路(400)的输出端与所述A/D转换模块(230)连接，所述DIO信号模块(220)与所述硬件测量电路(400)连接，所述DIO信号模块(220)用于根据待测晶体三极管控制所述硬件测量电路(400)中各个负载电阻的阻值；

所述硬件测量电路(400)包括测量电路单元，所述测量电路单元包括与所述待测晶体三极管的三个引脚分别连接的第一接口(T1)、第二接口(T2)和第三接口(T3)，且所述第一接口(T1)通过第一负载电阻(R1)与所述缓冲级(300)连接，所述第二接口(T2)通过第二负载电阻(R2)接地，所述第三接口(T3)通过第三负载电阻(R3)与所述缓冲级(300)连接；所述测量电路单元还包括用于测量所述第一负载电阻(R1)两端电压的第一放大器(A1)、用于测量所述第二接口(T2)和所述第三接口(T3)之间的电压的第二放大器(A2)和用于测量所述第二负载电阻(R2)或者所述第三负载电阻(R3)两端电压的第三放大器(A3)，所述第一放大器(A1)的输出端、所述第二放大器(A2)的输出端和所述第三放大器(A3)的输出端分别与所述A/D转换模块(230)连接；

当所述待测晶体三极管为NPN型晶体三极管时，所述第一接口(T1)、所述第二接口(T2)和所述第三接口(T3)分别与所述NPN型晶体三极管的基极、发射极和集电极连接，且所述第三放大器(A3)的输入端并接在所述第三负载电阻(R3)的两端；

当所述待测晶体三极管为PNP型晶体三极管时，所述第一接口(T1)、所述第二接口(T2)和所述第三接口(T3)分别与所述PNP型晶体三极管的基极、集电极和发射极连接，且所述第三放大器(A3)的输入端并接在所述第二负载电阻(R2)的两端；

所述上位机(100)通过所述D/A转换模块(210)和所述缓冲级(300)保持所述第一负载电阻(R1)的输入电压为第一输入电压值不变，并按照预设输入电压序列通过所述D/A转换模块(210)和所述缓冲级(300)依次调节所述第三负载电阻(R3)的输入电压值，同时所述上位机(100)获取每次调节所述第三负载电阻(R3)的输入电压值后对应的所述第一放大器(A1)、所述第二放大器(A2)和所述第三放大器(A3)的输出电压值；

所述上位机(100)改变所述第一负载电阻(R1)的输入电压至第二输入电压值并保持所述第二输入电压值不变，并按照所述预设输入电压序列通过所述D/A转换模块(210)和所述缓冲级(300)依次调节所述第三负载电阻(R3)的输入电压值，同时所述上位机(100)获取每次调节所述第三负载电阻(R3)的输入电压值后对应的所述第一放大器(A1)、所述第二放大器(A2)和所述第三放大器(A3)的输出电压值；

所述上位机(100)根据获取的所述第一放大器(A1)、所述第二放大器(A2)和所述第三放大器(A3)的全部的输出电压值计算所述待测晶体三极管的输出特性曲线的坐标点，并根据所述坐标点绘制并显示所述输出特性曲线。

2.根据权利要求1所述的一种基于虚拟仪器的晶体三极管输出特性曲线图示仪，其特征在于，所述硬件测量电路(400)包括两个结构相同的所述测量电路单元，分别为NPN测量电路单元和PNP测量电路单元，

所述NPN测量电路单元的所述第一接口(T1)、所述第二接口(T2)和所述第三接口(T3)分别与所述NPN型晶体三极管的基极、发射极和集电极连接，且所述第三放大器(A3)的输入端并接在所述第三负载电阻(R3)的两端；

所述PNP测量电路单元的所述第一接口(T1)、所述第二接口(T2)和所述第三接口(T3)分别与所述PNP型晶体三极管的基极、集电极和发射极连接，且所述第三放大器(A3)的输入端并接在所述第二负载电阻(R2)的两端。