[发明专利]一种受几何结构影响的局部并联尺寸链误差获取方法

权利要求书

1.一种受几何结构影响的局部并联尺寸链误差获取方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：

(a)针对轴在两个孔中的并联配合情况，将轴与两个孔并联配合等效为圆柱特征，并建立该圆柱特征相应的旋量T，由此实现所述并联配合的雅克比旋量模型的建立，其中，所述旋量T包括在以所述圆柱的中心为原点的空间坐标系XOY中，绕三个坐标轴的平移矢量参数和旋转矢量参数；

(b)根据轴与两个孔的配合情况，获取轴与两个孔配合中各自对应的接触点、分析点、以及该分析点的偏移大小和方向，根据分析点偏移方向划分所述雅克比旋量模型的类型；

(c)由所述雅克比旋量模型的类型中各个接触点和分析点的几何关系，求解并获取所述旋量T中平移矢量参数和旋转矢量参数的值，由此获得所述雅克比旋量模型，进而完成由两个并联尺寸链到一个尺寸链的转化。

2.如权利要求1所述的一种受几何结构影响的局部并联尺寸链误差获取方法，其特征在于，所述轴与两个孔的并联配合包括两种情况，一种为所述轴与两个孔配合后两端相应的分析点偏移方向相同，另外一种为所述轴与两个孔配合后两端相应的分析点偏移方向相反。

3.如权利要求2所述的一种受几何结构影响的局部并联尺寸链误差获取方法，其特征在于，在步骤(c)中，获取的所述旋量T优选采用下列表达式，

其中，所述轴与两个孔的配合中的两个孔分别为孔Ⅰ和孔Ⅱ，L₁是轴中心点到孔Ⅱ右端面的距离；L是孔Ⅰ和孔Ⅱ之间的距离；L₂是孔Ⅰ的左端面到孔Ⅱ左端面之间的距离，H₂是孔Ⅱ左右端面之间的距离，u₁是轴与左端孔配合的偏移大小，u₂是轴与右端孔配合的偏移大小。

4.如权利要求1-3任一项所述的一种受几何结构影响的局部并联尺寸链误差获取方法，其特征在于，所述旋量T中绕所述圆柱的中心轴的平移参数和旋转参数的值均为0。