[发明专利]一种光圈校正方法及装置

权利要求书

1.一种光圈校正方法，其特征在于，包括下述步骤：

A、将光圈的行程划分为多段，使所述光圈的行程量化；

B、将光圈的大小划分为多个等级，每个等级对应一个系数，所述系数为预定值；

C、获取所述光圈的最大光通量；

D、由大及小或由小及大地调节所述光圈，并获得所述光圈在调节过程中的调节光通量；

E、计算所述调节光通量与所述最大光通量的比值，当所述比值等于任一所述系数时，记录所述系数对应的等级和所述光圈的行程，完成一个所述等级的标定，至完成全部所述等级的标定，记录全部所述等级和所述行程的对应数据。

2.如权利要求1所述的光圈校正方法，其特征在于，所述步骤A具体为：

将光圈的行程划分为多段，其段数大于所述光圈的等级数，采用数字由小及大地标记所述段数。

3.如权利要求2所述的光圈校正方法，其特征在于，所述光圈的行程划分为800～1500段，所述光圈的等级分为12级，所述12级的系数分别为1,0.875,0.65,0.5,0.34,0.23,0.14,0.09,0.05.0.025,0.0125,0。

4.如权利要求3所述的光圈校正方法，其特征在于，所述行程划分为1000段，所述行程量化为0～1000；

所述行程0与等级1对应，行程1000与等级12对应，或者，所述行程0与等级12对应，行程1000与等级1对应；

所述等级1对应的系数为0，所述等级12对应的系数为1，或者所述等级1对应的系数为1，所述等级12对应的系数为0。

5.如权利要求1至4任一项所述的光圈校正方法，其特征在于，所述步骤C具体为：

将安装在摄像机上的所述光圈打开最大尺寸，所述摄像机的传感器的成像面上接收的光通量为最大光通量。

6.如权利要求5所述的光圈校正方法，其特征在于，所述调节光通量和最大光通量在数值上均为所述传感器的成像面接收的平均亮度除以所述传感器的曝光时间。

7.如权利要求1至4任一项所述的光圈校正方法，其特征在于，所述步骤E具体为：

E1、计算所述调节光通量与所述最大光通量的比值，判断所述比值是否等于任一所述系数，是则进行步骤E2，否则进行所述步骤D；

E2、记录所述系数对应的等级和所述光圈的行程，完成一个所述等级的标定；

E3、判断是否完成全部所述等级的标定，是则进行步骤E4，否则进行步骤D；

E4、保存全部所述等级和所述行程的对应数据。

8.如权利要求1至4任一项所述的光圈校正方法，其特征在于，在所述步骤A之前还包括将所述光圈及校正用的芯片进行初始化的步骤。

9.用于实施权利要求1所述的光圈校正方法的装置，其特征在于，包括：

镜头，包括所述光圈；

图像传感器，用于接收透过所述光圈的光线；

图像处理芯片，用于向光圈控制芯片发送光圈控制信号，用于根据所述图像传感器发送的图像数据计算所述调节光通量与所述最大光通量的比值，当所述比值等于任一所述系数时，记录所述系数对应的等级和所述光圈的行程，完成一个所述等级的标定，至完成全部所述等级的标定，并记录全部所述等级和所述行程的对应数据；

光圈控制芯片，用于根据所述光圈控制信号由大及小或由小及大地调节所述光圈。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述图像处理芯片包括：

计算模块，用于根据所述图像传感器发送的图像数据计算所述调节光通量和最大光通量，计算所述调节光通量和最大光通量的比值；

分析模块，用于判断所述比值是否等于任一所述系数；

标定模块，用于当所述比值等于任一所述系数时，记录所述系数对应的等级和所述光圈的行程，完成一个所述等级的标定；

存储模块，用于保存全部所述等级和所述行程的对应数据。