[发明专利]一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法及系统

说明书

本发明解决的技术问题是提供一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法及系统，属于视轴调试技术领域，为一种简单快捷高效的多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法和系统，其利用软件测试灰度值将星点靶标像的信息进行读取，通过图像采集直接反映出TDI CCD探测器视轴位置，将各个探测器的位置调准。该方法和系统能够使得成像质量得到保证，多谱段多探测器图像融合满足系统成像要求。

技术领域

本发明属于视轴调试技术领域，涉及一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法。

背景技术

某型高分辨红外成像系统采用多个TDI CCD长线列器件，以此达到多谱段成像效果。TDI CCD是一种特殊的线阵CCD器件，其利用时间延迟积分技术，通过TDI CCD的多级光敏元对运动的同一目标多次积分，可在低照度条件下获得高灵敏度、高分辨率的图像。为保证多谱段的成像融合，多个探测器视轴的一致性必须一致，否则各探测器位置出现偏移，容易造成各探测器图像扭曲、倾斜，在图像融合时易导致有效成像区域较小，无效区域增大等，因此多个TDI CCD探测器视轴对中则十分关键。

发明内容

针对现应用需求，本发明解决的技术问题是提供一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法。为一种简单快捷高效的多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法，其特点是利用软件测试灰度值将星点靶标像的信息进行读取，通过图像采集直接反映出TDICCD探测器视轴位置，将各个探测器的位置调准。

本发明的技术方案是:一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试系统，包括光电综合测试系统、成像系统、第一经纬仪、第二经纬仪、图像显示器；所述的光电综合测试系统由平行光管、靶标、光源组成；其能够选择不同尺寸的靶标，以及选择相对应不同谱段探测器的光源；光源经不同尺寸的靶标后，通过平行光管出射平行光，形成不同尺寸的靶标像；能够针对不同像元尺寸的TDI CCD探测器选择不同尺寸的靶标；所述的第一经纬仪、第二经纬仪用于使成像系统与光电综合测试系统的光轴对准；所述的成像系统包括TDI CCD探测器、与探测器匹配的光学系统；光学系统、TDI CCD探测器为待调试对象，TDI CCD探测器为多个；还包括图像采集系统，图像采集系统用于实时采集TDI CCD探测器的图像输出给图像显示器进行显示，还包括待调试成像系统设备，所述的待调试成像系统装置设备包括光学气浮平台、二维转台工装、与成像系统光轴平行的平面反射镜、与成像系统光轴垂直的平面反射镜；所述的二维转台工装使成像系统中的TDI CCD探测器进行俯仰、方位二维方向的转动；成像系统安装于二维转台工装上；二维转台工装位于气浮光学平台之上。

优选地，上述的一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试系统，其特征在于，所述的光电综合测试系统还包括操控计算机；通过操控计算机选择不同尺寸的靶标，设置不同谱段的TDI CCD探测器相应的光源。

一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法，该方法包括下述步骤：

步骤一、待调焦的多个TDI CCD探测器的成像系统与光电综合测试系统的光轴对准；

步骤二、实时采集成像系统的成像图像，实时显示面阵模式下TDI CCD探测器的图像；

步骤三、设置光电综合测试系统，针对不同谱段的TDI CCD探测器设置相应的光源，针对不同像元尺寸的TDI CCD探测器设置相应的星点靶标；

步骤四、对待调焦的TDI CCD探测器进行焦面调试，具体内容如下：

S41将多个探测器中的任意一个待TDI CCD探测器做为待调试探测器，将其设置为面阵模式；

S42打开光源、选取相应星点靶标，观察采集到的图像，从图像确定中间条纹代表的像元所在探测器器件中的位置坐标；