[发明专利]一种液晶显示器及其过温保护方法在审
申请号: | 201711153664.1 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN107895565A | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 张先明;王照 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶显示器 及其 保护 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电路、过温保护等领域,具体为一种液晶显示器及其过温保护方法。
背景技术
现在的面板尺寸越来越大,伴随着负载也越来越重,在这种的情况下,集成电路如脉冲宽度调制电路(PWM IC)、可编程伽马缓冲电路(P-Gamma IC)、电平转换电路(Level Shifter IC),甚至于时序控制电路(TCON IC)的温度问题越来越严重,目前的过温保护方法为温度达到一定程度后就关闭输出,直到温度下降至安全值再进行正常输出。
这种保护并不能实时侦测温度的变化,在异常输出的情况下可能温度急剧上升,以致集成电路达到一种高温状态,但并不一定会达到过温保护的目的,导致各种集成电路或产品一直在一个危险的状况下工作,这种情况下,现有的过温保护方法的保护效果较差。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种液晶显示器及其过温保护方法,以解决现有技术的过温保护方法不能实时侦测温度的变化、保护效果较差的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种液晶显示器,包括第一集成电路和至少一个第二集成电路,所述第一集成电路和第二集成电路连接至同一数据总线;其中所述第一集成电路包括:
温度值读取模块,用以通过所述数据总线读取第二集成电路在当前检测周期的温度值;
温度差值计算模块,用以计算所述第二集成电路在当前检测周期的温度值与所述第二集成电路在前一检测周期的温度值的温度差值;
判定模块,用于判断所述温度差值是否大于或等于预设阈值;
控制模块,用于在所述温度差值大于或等于预设阈值时,向所述第二集成电路发送第一控制指令,以使所述第二集成电路断电。
在本发明一较佳实施例中,所述控制模块,还用于在所述温度差值小于预设阈值时,向所述第二集成电路发送第二控制指令,以使所述第二集成电路恢复供电。
在本发明一较佳实施例中,所述第二集成电路包括:
温度值采集模块,用以采集该第二集成电路在当前检测周期的温度值;以及
存储模块,用于保存所述当前检测周期的温度值。
在本发明一较佳实施例中,所述第二集成电路内设置有侦测点;所述温度值采集模块包括:
电压检测单元,用以在当前检测周期内检测所述侦测点的电压;
温度值计算单元,用以根据所述侦测点的电压计算所述第二集成电路在当前检测周期内的温度值;以及
温度值转换单元,用以将所述第二集成电路在当前检测周期内的温度值转化为数字信号格式;
所述存储模块存储的温度值为数字信号格式的温度值。
在本发明一较佳实施例中,所述数据总线为I2C总线;所述第一集成为时序控制电路;所述第二集成电路为脉冲宽度调制电路、可编程伽马缓冲电路或电平转换电路。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种液晶显示器的过温保护方法,所述液晶显示器包括第一集成电路和至少一个第二集成电路,所述第一集成电路和第二集成电路连接至同一数据总线;其中所述过温保护方法包括如下步骤;
所述第一集成电路的温度值读取模块通过所述数据总线读取第二集成电路在当前检测周期的温度值;
所述第一集成电路的温度差值计算模块计算所述第二集成电路在当前检测周期的温度值与所述第二集成电路在前一检测周期的温度值的温度差值;
所述第一集成电路的判定模块判断所述温度差值是否大于或等于预设阈值;
所述第一集成电路的控制模块在所述温度差值大于或等于预设阈值时,向所述第二集成电路发送第一控制指令,以使所述第二集成电路断电。
在本发明一较佳实施例中,所述过温保护方法还包括如下步骤:所述第一集成电路的的控制模块在所述温度差值小于预设阈值时,向所述第二集成电路发送第二控制指令,以使所述第二集成电路恢复供电。
在本发明一较佳实施例中,在所述第一集成电路的温度值读取单元通过所述数据总线读取第二集成电路在当前检测周期的温度值的步骤之前,所述方法还包括:
所述第二集成电路的温度值采集模块采集所述第二集成电路在当前检测周期的温度值;以及
所述第二集成电路的存储模块保存所述当前检测周期的温度值。
在本发明一较佳实施例中,所述第二集成电路内设置有侦测点,所述第二集成电路的温度值采集模块采集所述第二集成电路在当前检测周期的温度值的步骤包括:
所述温度值采集模块的电压检测单元在当前检测周期内检测所述侦测点的电压;
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