[发明专利]一种低频RC振荡器的时钟频率校准方法和系统在审

专利信息
申请号: 201711154750.4 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN108063617A 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 徐明鹤 申请(专利权)人: 珠海慧联科技有限公司
主分类号: H03L7/099 分类号: H03L7/099;H03L7/18
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 俞梁清
地址: 519000 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 低频 rc 振荡器 时钟 频率 校准 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于:包括低频RC振荡器、校准控制模块、晶振控制模块和校准模块;

所述低频RC振荡器为待校准的低频时钟源,用于为所述校准模块提供低频RC标准时钟;

所述校准控制模块,用于接收外部输入的校准使能信号,根据校准使能信号使能晶振控制模块和校准模块;

所述晶振控制模块,用于将外部高频晶振转换为高频标准晶振时钟,并将所述高频标准晶振时钟送至校准模块;

所述校准模块,利用所述高频标准晶振时钟对低频RC标准时钟进行校准,得到校准频率值。

2.根据权利要求1所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于:所述校准模块包括计数模块和除法模块;

所述计数模块,利用所述高频标准晶振时钟对低频RC标准时钟进行校准,并输出校准频率的计数值至除法模块;

所述除法模块用于将计数值转换为校准频率值。

3.根据权利要求2所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于,所述计数模块,利用所述高频标准晶振时钟对低频RC标准时钟进行校准,包括:

根据所述低频RC标准时钟产生稳定持续的供高频标准晶振时钟采样的电平信号,所述电平信号中的高电平信号持续时间对应低频RC标准时钟的具体周期数;

所述高频标准晶振时钟对电平信号进行采样,每采样一个低频RC标准时钟的完整周期内的高电平,计数值加一,直至电平信号出现低电平为止,得到校准频率的计数值。

4.根据权利要求2所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于,所述除法模块用于将计数值转换为校准频率值,包括:以低频RC标准时钟周期的具体数量值和高频标准晶振时钟的频率值之积作为被除数,以计数值作为除数,相除得到校准频率值。

5.根据权利要求2所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于,所述校准控制模块,用于接收外部输入的校准使能信号,根据校准使能信号使能晶振控制模块和校准模块,包括:

根据所述校准使能信号产生晶振使能信号和校准控制信号,利用晶振使能信号使能晶振控制模块,利用校准控制信号向计数模块下发计算任务。

6.根据权利要求2所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于,所述校准控制模块还用于控制相邻两次校准过程的时间间隔,包括:相隔一个或一个以上的低频RC时钟周期,校准一次;或者根据相邻两次计数模块所得到的计数值之差的变化趋势,自适应调整相邻两次校准过程的时间间隔。

7.根据权利要求6所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准系统,其特征在于,所述校准控制模块,根据相邻两次计数模块所得到的计数值之差的变化趋势,自适应调整相邻两次校准过程的时间间隔,包括:若相邻两次计数模块所得到的计数值之差变小,增大相邻两次校准过程的时间间隔;若相邻两次计数模块所得到的计数值之差变大,减小相邻两次校准过程的时间间隔。

8.一种低频RC振荡器的时钟频率校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

A、将外部高频晶振转换为高频标准晶振时钟,以高频标准晶振时钟为校准用的标准时钟源;

B、输入待校准的低频RC标准时钟,通过高频标准晶振时钟选择出具体周期数的低频RC标准时钟。

C.根据具体周期数的低频RC标准时钟产生持续的电平信号,由高频标准晶振时钟对所述电平信号进行采样计数,得到校准频率的计数值。

D.将计数值转换为校准频率值。

9.根据权利要求8所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准方法,其特征在于,所述步骤C中,由高频标准晶振时钟对所述电平信号进行采样计数,包括:每采样一个低频RC标准时钟的完整周期内的高电平,计数值加一,直至电平信号出现下降沿,变为低电平为止。

10.根据权利要求8所述的一种低频RC振荡器的时钟频率校准方法,其特征在于,所述步骤D中,将计数值转换为校准频率值,包括:以低频RC标准时钟周期的具体数量值和高频标准晶振时钟的频率值之积作为被除数,以计数值作为除数,相除得到校准频率值。

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