[发明专利]中红外光的全谱测量方法和相应的装置

权利要求书

1.一种中红外光的全谱测量方法，包括如下步骤：

步骤一：使中红外光与泵浦光同时投射到至少两个上转换晶体上发生和频，将所述中红外光上转换为可见光，其中，所述至少两个上转换晶体的上转换波段的总和覆盖所述中红外光的全谱；

步骤二：对转换后的可见光进行探测；以及

步骤三：基于所述可见光的探测结果得到所述中红外光的全谱。

2.根据权利要求1所述的中红外光的全谱测量方法，其中，所述中红外光的全谱波段为3μm～10μm。

3.根据权利要求1所述的中红外光的全谱测量方法，其中，所述至少两个上转换晶体中的一个为MgO:LiNbO₃晶体，另一个为AgGaGeS₄晶体。

4.根据权利要求3所述的中红外光的全谱测量方法，其中，在步骤二中，采用线阵CMOS探测器对转换后的可见光进行探测。

5.根据权利要求4所述的中红外光的全谱测量方法，其中，所述步骤二包括如下子步骤：

2-1：将所述可见光进行分光；以及

2-2：分光后的可见光通过所述线阵CMOS探测器，从而得到可见光的光强I_signal随像素点P的变化关系。

6.根据权利要求5所述的中红外光的全谱测量方法，其中，所述步骤三包括如下子步骤：

3-1：利用中红外光的频率窗口中的至少两个特征吸收标准样拟合中红外光的波长λ_MIR与像素点P的函数关系；

3-2：根据可见光的光强I_signal随像素点P的变化关系以及中红外光的波长λ_MIR与像素点P的函数关系得到中红外光的光强I_MIR与中红外光的波长λ_MIR的关系。

7.根据权利要求6所述的中红外光的全谱测量方法，其中，所述函数关系为线性函数关系或二次函数关系。

8.一种中红外光的全谱测量装置，包括：

上转换部件，其包括至少两个上转换晶体，所述至少两个上转换晶体的上转换波段的总和覆盖中红外光的全谱，其中，中红外光与泵浦光同时投射到所述至少两个上转换晶体上发生和频，将所述中红外光上转换为可见光；

可见光探测部件，其包括光谱仪和可见光探测器，其中，所述可见光探测器包括可见光探测模块和转换模块，所述可见光探测模块用于探测被所述光谱仪分束的可见光，所述转换模块用于将所述可见光探测模块的输出转化为中红外光的光谱。

9.根据权利要求8所述的中红外光的全谱测量装置，其中，所述可见光探测模块的输出为可见光的光强I_signal随像素点P的变化关系。

10.根据权利要求9所述的中红外光的全谱测量装置，其中，所述转换模块还包括拟合模块，用于拟合中红外光的波长与像素点的函数关系。