[发明专利]多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统及方法在审
申请号: | 201711155939.5 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN107918074A | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 周杨;常庆功;米郁;殷志军;王亚海 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人: | 张勇 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 仪器设备 测试 系统 硬件 脉冲 时序 逻辑 控制系统 方法 | ||
1.一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,包括机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器;
所述机械设备,被配置为移动至预设机械位并向电扫装置发送同步脉冲;
所述电扫装置,被配置为接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲,并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率;同时还向波控设备发送波位触发信号;
所述测试仪器,被配置为根据接收到的数据采集触发脉冲,在预设硬件通道内完成数据采集。
2.如权利要求1所述的一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,当需要测试的硬件通道至少有两个时,测试仪器预设硬件通道完成数据采集后,测试仪器被配置为向电扫装置发送完操作完成脉冲;所述电扫装置还被配置为接收到完操作完成脉冲后切换到其他硬件通道,直至完成当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。
3.如权利要求1所述的一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,所述机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器均与上位机相互通信,上位机用于对机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器分别进行初始化。
4.如权利要求1所述的一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,所述机械设备包括扫描架和转台。
5.如权利要求1所述的一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,所述测试仪器包括矢量网络分析仪和频谱仪。
6.一种如权利要求1所述的多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统的控制方法,其特征在于,包括:
步骤1:机械设备移动到预设机械位处,并向电扫装置发送同步脉冲;
步骤2:电扫装置接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲,并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率;同时,电扫装置向波控设备发送波位触发信号,波控设备接收到触发信号后切换到预设波位;
步骤3:在当前测试频点的预设波位处,电扫装置向测试仪器发送数据采集触发脉冲,在预设硬件通道内完成数据采集;
步骤4:重复上述步骤,直至完成相应测试仪器的当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。
7.如权利要求6所述的控制方法,其特征在于,当需要测试的硬件通道至少有两个时,测试仪器预设硬件通道完成数据采集后,测试仪器向电扫装置发送完操作完成脉冲,由电扫装置接收到完操作完成脉冲后切换到其他硬件通道,直至完成当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。
8.如权利要求6所述的控制方法,其特征在于,该方法还包括:在测试前,分别初始化机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711155939.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学玻璃、使用有光学玻璃的光学元件和光学装置
- 下一篇:高透射玻璃