[发明专利]一种智能光电转速测试系统在审
申请号: | 201711159171.9 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN109813926A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 杨蔡 | 申请(专利权)人: | 成都永和光学有限公司 |
主分类号: | G01P3/36 | 分类号: | G01P3/36;G01P1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610512 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试系统 光电转速 发光二极管 转子 单片机 传感器 智能 图形处理功能 测试过程 串行通信 依次连接 中转速 | ||
本发明涉及一种智能光电转速测试系统,包括:转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片、显示单元;所述转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片依次连接;所述MAX232芯片通过串行通信与显示单元连接并将TTL电平转换成RS‑232C电平;所述显示单元用于显示测试过程中转速的最大值、最小值以及最后值;本发明的智能光电转速测试系统具有强大的图形处理功能,整个系统能稳定而有效的工作;系统取有良好的效果且具有较强的实用性。
技术领域
本发明涉及转速测试系统技术领域,尤其涉及一种智能光电转速测试系统。
背景技术
在工业生产和科学实验中,转速测量是一个很重要的问题-现有的数字式光电转速测试表,能对转速进行实时的测试,但是它只能读瞬时值,在测试的过程中产生的大量数据无法保存,无法对转速的变化过程进行细致的分析,日后也无法查看以前的实验数据,具有很大的缺陷,影响了实验的效果。
发明内容
本发明的目的是通过以下技术方案实现的。
一种智能光电转速测试系统,包括:转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片、显示单元;所述转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片依次连接;所述MAX232芯片通过串行通信与显示单元连接并将TTL电平转换成RS-232C电平;所述显示单元用于显示测试过程中转速的最大值、最小值以及最后值。
进一步的,单片机选择ATMEL89C51系列单片机。
进一步的,显示单元为平板电脑、计算机、液晶显示屏中的一种。
进一步的,显示单元以数字形式、折线图方式呈现。
进一步的,传感器为光电传感器。
本发明的优点在于:本发明的智能光电转速测试系统具有强大的图形处理功能,整个系统能稳定而有效的工作;系统取有良好的效果且具有较强的实用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
附图1示出了根据本发明实施方式的一种智能光电转速测试系统。
具体实施方式
在下面的详细描述中,提出了许多具体细节,以便于对本发明的全面理解。但是,对于本领域技术人员来说很明显的是,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好地理解。
下面将结合附图,对本发明实施例的技术方案进行描述。
如图1所示,本发明提供一种智能光电转速测试系统,包括:转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片、显示单元;所述转子、发光二极管、传感器、单片机、MAX232芯片依次连接;所述MAX232芯片通过串行通信与显示单元连接并将TTL电平转换成RS-232C电平;所述显示单元用于显示测试过程中转速的最大值、最小值以及最后值。
根据本发明的一个方面,单片机选择ATMEL89C51系列单片机。
根据本发明的一个方面,显示单元为平板电脑、计算机、液晶显示屏中的一种。
根据本发明的一个方面,显示单元以数字形式、折线图方式呈现。
根据本发明的一个方面,传感器为光电传感器。
本发明的智能光电转速测试系统具有强大的图形处理功能,整个系统能稳定而有效的工作;系统取有良好的效果且具有较强的实用性。
本发明并不限于上述实例,在本发明的权利要求书所限定的范围内,本领域技术人员不经创造性劳动即可做出的各种变形或修改均受本专利的保护。
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