[发明专利]基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法

权利要求书

1.一种基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，包含以下过程：确定天线罩结构参数与测量频率f，对材料与结构相同的多个天线罩进行IPD的测量参数及测量影响系数的标定；

所述对材料与结构相同的多个天线罩进行IPD的测量参数及测量影响系数的标定包含：标定喇叭天线的测量参数，标定天线罩IPD测量辐射区域宽度L，标定天线罩IPD的厚度影响系数，标定测量辐射区域内各点对天线罩IPD测量值的位置影响系数；

基于天线罩的罩壁的单位厚度变化引起的IPD变化量最大原则，确定优选测量参数，并建立天线罩IPD变化与壁厚误差的影响关系公式；

对被测天线罩进行IPD测试，并与标准曲线进行对比，建立IPD超差曲线；结合IPD超差曲线和IPD影响关系公式，确定天线罩各部位的壁厚修正量；采用修磨或喷涂方法对所述天线罩进行壁厚修正。

2.如权利要求1所述的基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，所述对喇叭天线的测量参数标定包含以下过程：所述喇叭天线的测量参数包含喇叭天线的测量喇叭天线增益H和所述喇叭天线口径面到所述天线罩体表面的测量距离d的测量参数；在被测天线罩上选择任意一区域通过磨削改变壁厚，采用不同的喇叭天线并按照不同的测量距离对磨削前后的该区域进行IPD检测，选择IPD测量值变化最为明显的测量参数作为优选的测量参数。

3.如权利要求2所述的基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，所述对天线罩IPD测量辐射区域宽度L的标定包含以下过程：通过砂轮在被测天线罩的局部表面进行磨削，并检测IPD值发生明显变化的区域宽度，此宽度为天线罩IPD测量辐射区域宽度L；或者在被测天线罩上≥50mm的表面区域进行等厚度的磨削，其磨削区域宽度为W₁，磨削后，IPD变化量基本恒定的区域宽度为W₂，则所述天线罩IPD测量辐射区域宽度L为：

L＝W₁-W₂。

4.如权利要求3所述的基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，所述对天线罩IPD的厚度影响系数的标定包含以下过程：在被测天线罩表面进行≥2L的等厚度磨削，磨削量为Δh，磨削前后天线罩IPD值的变化量为恒定的区域的平均变化量为则厚度影响系数K_P，

5.如权利要求4所述的基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，所述对测量辐射区域内各点对天线罩IPD测量值的位置影响系数的标定包含以下过程：在测量辐射区域内，测量中心点的影响系数最大，其余各点对测量点IPD值的影响系数随距离的增加而递减，并关于测量中心点左右对称；被测天线罩IPD测量步距取L/6，对于任一测量点n，影响其IPD值的测量点序号分别为n-3、n-2、n-1、n、n+1、n+2、n+3，在各测量点上的厚度超差分别为Δh_n-3、Δh_n-2、Δh_n-1、Δh_n、Δh_n+1、Δh_n+2、Δh_n+3，各点厚度超差对测量点n的IPD超差的位置影响系数分别为k₃、k₂、k₁、k₀、k₁、k₂、k₃，则所述天线罩IPD变化与壁厚误差的关系式为：

其中，k₀+2k₁+2k₂+2k₃＝1。

6.如权利要求5所述的基于单喇叭反射天线罩IPD的天线罩电性能修正方法，其特征在于，天线罩壁厚修正量按照IPD超差量和超差区域进行计算，取IPD超差区域的宽度为τ，超差区域内的IPD最大超差量为Δφ_max，天线罩壁厚修正包含以下过程：

τ≤L，IPD超差由局部位置突变误差、测量随机误差引起，则天线罩壁厚不需修正；

L＜τ≤2L，采用等厚度修正，修正区域为IPD超差区域中心±(τ-L)/2范围，厚度修正量Δh_n＝|Δφ_max|*L/(τ-L)/K_p；

2L≤τ，IPD超差量最大区域部分呈近似直线，采用等厚修正，修正区域为IPD超差区域中心±(τ-L)/2范围，厚度修正量Δh_n＝|Δφ_max|/K_p；

2L≤τ，IPD超差曲线呈现不规则变化，采用不等厚修正，修正区域为IPD超差曲线区域中心±(τ-L)/2范围，通过如下算式确定各测量点的厚度修正量，

其中，1，2，…，n为修正区域起点至修磨终点的序号，分别为对应点的IPD超差，Δh₁，Δh₂，…，Δh_n为对应各点的修正量。