[发明专利]耦合干扰的干扰源检测方法及装置

权利要求书

1.一种耦合干扰的干扰源检测方法，其特征在于，包括：

当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；

当检测到所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值之前，包括：

测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值；

根据所述TPR的测量值、发射性能参数的预设值和接收性能参数的预设值计算TIS的理论值；

当检测到所述TIS的理论值和所述TIS的测量值不相同时，确定所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值，包括：

测量所述无线射频芯片中的天线的无源指标，得到所述无源指标的测量值，所述天线的无源指标至少包括以下参数中的至少一种：天线的效率、天线的增益、天线的带宽、驻波比以及方向图；

当检测所述无源指标的测量值与所述无源指标的预设数值相同时，测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值，包括：

通过传导的方式，测量所述无线射频芯片的射频参数，得到所述射频参数的测量值；所述射频参数包括发射性能参数和接收性能参数，所述发射性能参数至少包括以下参数中的至少一种：发射功率、频谱模板和频谱偏移，所述接收性能参数至少包括接收灵敏度；

当检测所述射频参数的测量值与所述射频参数的预设数值相同时，测量所述无线射频芯片的总发射功率TPR和接收灵敏度TIS，得到TPR的测量值和TIS的测量值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当检测所述射频参数的测量值与所述射频参数的预设数值不相同时，确定所述无线射频芯片的天线受到传导干扰。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述当确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源之后，所述方法还包括：

对所述噪声参数对应的器件进行调试，以使调试后的所述器件产生的噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值相同。

7.一种耦合干扰的干扰源检测装置，其特征在于，包括：

第一检测模块，用于检测无线射频芯片的天线是否受到耦合干扰；

第一测量模块，用于当所述第一检测模块检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；

第二检测模块，用于检测所述第一测量模块测量到的所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值是否相同；

第一确定模块，用于当所述第二检测模块检测到所述第一测量模块测量到的所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。