[发明专利]一种晶体振荡器频率监测系统及方法

说明书

本申请公开了一种晶体振荡器频率监测系统及方法。本发明包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元用于向各连接设备输出控制参数，所述变温单元用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数，实现了在变温条件下对晶体振荡器的连续频率监测。

技术领域

本发明涉及晶体振荡器频率监测技术领域，具体涉及一种用于在变温条件下对晶体振荡器进行连续频率监测的监测系统和监测方法。

背景技术

由于晶体振荡器的内部应力与外界温度有很大关系，在特定的温度条件下，晶体振荡器的内部应力可能发生突变，从而引起频率的突跳。对于频率稳定度要求较高的环路，这样的突跳很可能会导致环路的失锁，进而导致系统故障。因此，对于频率稳定度要求较高的器件，有必要在其工作温度范围内连续测量其频率的变化，这就要求对器件的频率进行连续且快速的测量。

目前的频率测量设备只能在特定温度点上对晶体振荡器的频率进行不连续的测量，很难满足型号设备在变温条件下对晶体振荡器的频率连续测量的需求。

因此，需要提供一种晶体振荡器变温频率跳变监测系统及方法。

发明内容

本发明目的是提供一种用于在变温条件下对晶体振荡器进行连续频率监测的监测系统和监测方法。

为实现上述发明目的，本发明所采用的技术方案是：

一种晶体振荡器频率监测系统，包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，

所述主控单元，用于向各连接设备输出控制参数，所述主控单元输出的控制参数包括初始化控制参数、复位控制参数、测试温度循环参数，各连接设备在所述主控单元的初始化控制参数和复位控制参数控制下实现初始化和复位；

所述变温单元，用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；

所述供电单元，用于给测试单元提供测试电压；

所述测试单元，用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；

所述频率计数单元，用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数。

优选地，所述主控单元内包含有控制模块、存储模块、人机交互模块、数据采集模块和数据处理模块，所述数据采集模块分别和所述控制模块、存储模块、数据处理模块连接，所述人机交互模块和所述数据处理模块连接，所述存储模块用于实现数据的存储；所述控制模块用于控制各连接设备的工作参数；所述数据采集模块用于采集检测到的测试数据；所述数据处理模块用于将采集到的测试数据处理后以图表的形式输出到人机交互模块；所述人机交互模块用于实现图表形式测试数据的人机交互。

优选地，所述主控单元还包括驱动模块。

优选地，所述变温单元采用温度试验箱。

优选地，所述频率计数单元采用频率计数器。

优选地，所述测试单元包括多路测试通道，用于实现多个待监测振荡器的检测。

优选地，所述测试单元和所述主控单元之间连接有选择单元，用于对多路测试通道的选择进行设置。

优选地，所述选择单元包括单片机和逻辑电路芯片。