[发明专利]一种适用于数字到轴角转换器的内建测试电路与方法有效

专利信息
申请号: 201711163499.8 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN107976209B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 奚志林;张永浩;刘逸卿;崔文;张智;王磊;宋西鹏;张冰;林海军;赵裴彩 申请(专利权)人: 连云港杰瑞电子有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01R31/28
代理公司: 连云港润知专利代理事务所 32255 代理人: 刘喜莲
地址: 222000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 数字 到轴角 转换器 测试 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种适用于数字到轴角转换器的内建测试方法,其特征在于,内建测试方法使用的内建测试电路由激磁丢失检测电路、电源丢失检测电路、过流堵转检测电路和过热检测电路组成,通过所述四个电路输出的信号经逻辑运算输出内建测试BIT信号;通过激磁丢失检测电路、电源丢失检测电路、过热检测电路及外部使能信号经逻辑运算输出功放使能信号;

所述的过流堵转检测电路由电流采样电路、半波整流滤波电路、迟滞比较器和堵转激发电路组成;电流采样电路将电源±V上的电流信号转换为电压信号,经减法器降幅及均值处理,经半波整流滤波电路处理,产生直流电压信号;经迟滞比较器进行比较运算,输出Over current-test信号;同时该信号叠加45°后输出给数字-正余弦转换单元,实行防堵转功能;

内建测试方法通过内建测试电路对被测电路的激磁信号、直流电源、温度、电流实时检测,并输出工作状态指示信号;激磁丢失、电源丢失、过热异常状态及外部使能信号可输出禁止信号,关断正余弦-同步或解算信号转换电路输出从而实现对整体电路的保护;通过过流异常工作状态及外部触发信号可输出一个控制信号,激发防堵转电路从而实现对整体电路的保护;

该方法由激磁丢失检测电路对激磁信号电压幅值进行实时检测,电压幅值正常时,输出Loss of ref-test信号为逻辑‘1’,电压幅值偏小时,输出Loss of ref-test信号为逻辑‘0’;电源丢失检测电路对直流电源电压幅值进行实时检测,电压幅值正常时,输出Loss ofpower-test信号为逻辑‘1’,电压幅值偏小时,输出Loss of power-test信号为逻辑‘0’;过流堵转检测电路对电源电流信号进行实时检测,电流值在正常范围内时,输出Overcurrent-test信号为逻辑‘0’,电流值超出正常范围时,输出Over current-test信号为逻辑‘1’,激发防堵转功能,叠加45°角度信号给数字-正余弦信号转换电路;过热检测电路对正余弦-同步或解算信号转换电路输出级功率器件内核温度进行实时检测,温度值在正常范围内时,输出Over temp-test信号为逻辑‘0’,温度值超出正常范围时,输出Over temp-test信号为逻辑‘1’;四个信号经或非门进行逻辑运算处理,输出内建测试BIT信号;Lossof ref-test信号为逻辑‘0’,或Loss of power-test信号为逻辑‘0’,或Over current-test信号为逻辑‘1’,或Over temp-test信号为逻辑‘1’时,输出BIT信号为逻辑‘0’,其余状态下输出BIT信号为逻辑‘1’;Loss of ref-test、Loss of power-test、Over temp-test及外部使能信号EN经与门进行逻辑运算处理,输出功放使能信号;

当Loss of ref-test信号为逻辑‘1’,且Loss of power-test信号为逻辑‘1’,且Overcurrent-test信号为逻辑‘0’,且EN信号为逻辑‘0’时,输出输出功放使能信号为逻辑‘1’,其余状态下为逻辑‘0’。

2.根据权利要求1所述的内建测试方法,其特征在于:所述的激磁丢失检测电路由减法器、半波整流滤波电路和迟滞比较器组成;减法器将激磁信号降幅处理,半波整流滤波电路将降幅处理后的交流激磁信号转换成直流激磁信号,迟滞比较器将直流激磁信号与内部基准直流信号进行比较,输出Loss of ref-test信号。

3.根据权利要求1所述的内建测试方法,其特征在于:所述的电源丢失检测电路由电源输入使能电路、减法器和迟滞比较器组成;电源输入使能电路实现±15V同步供电,避免单电源供电现象;减法器将电源电压差进行降幅处理,迟滞比较器将降幅处理后的电源信号与内部基准直流信号进行比较,输出Loss of power-test信号。

4.根据权利要求1所述的内建测试方法,其特征在于:过热检测电路由温度采样电路和迟滞比较器组成;温度采样电路将温度信号转换为电压信号,经迟滞比较器进行比较,输出Over temp-test信号。

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