[发明专利]一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器及其制作方法在审
申请号: | 201711166197.6 | 申请日: | 2017-11-21 |
公开(公告)号: | CN108010910A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 陈文锁;廖瑞金 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | H01L27/07 | 分类号: | H01L27/07;H01L21/8249 |
代理公司: | 重庆大学专利中心 50201 | 代理人: | 王翔 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 沟槽 型肖特基 接触 超级 整流器 及其 制作方法 | ||
1.一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器,其特征在于:包括下电极层(10)、重掺杂第一导电类型衬底层(20)、轻掺杂第一导电类型外延层(30)、第二导电类型体区(40)、栅介质层(60)、栅电极层(70)、肖特基接触区(80)和上电极层(90);
所述重掺杂第一导电类型衬底层(20)覆盖于下电极层(10)之上;
所述轻掺杂第一导电类型外延层(30)覆盖于重掺杂第一导电类型衬底层(20)之上;
所述第二导电类型体区(40)覆盖于轻掺杂第一导电类型外延层(30)之上的部分表面;
所述栅介质层(60)嵌入于轻掺杂第一导电类型外延层(30)之上的部分表面区域;所述栅介质层(60)呈现为U型结构,所述U型结构底部介质层厚度大于侧壁介质层厚度;
所述栅电极层(70)覆盖于U型栅介质层(60)之内;
所述肖特基势垒接触区(80)覆盖于第二导电类型体区(40)之上;
所述上电极层(90)覆盖于栅电极层(70)和肖特基势垒接触区(80)之上。
2.根据权利要求1所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器,其特征在于:还包括第二导电类型保护环及结终端区,所述第二导电类型保护环及结终端区为闭合状的环形结构;环形包围的中间区域为有源区。
3.根据权利要求1或2所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器,其特征在于:所述第二导电类型体区(40)与U型栅介质层(60)外部侧壁的部分区域相连;所述第二导电类型体区(40)由一个或者多个重复的结构单元构成;所述第二导电类型体区(40)位于有源区内部,位于有源区边缘的结构单元与所述第二导电类型保护环及结终端区可以接触,也可以不接触。
4.一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)准备重掺杂第一导电类型衬底层(20);
2)形成轻掺杂第一导电类型外延层(30);
3)形成第二导电类型体区(40);
4)刻蚀硅槽;
5)形成U型栅介质层(60)的底部厚介质层;
6)形成栅介质层(60);
7)形成栅电极层(70);
8)形成肖特基势垒接触区(80);
9)形成上电极层(90)和下电极层(10)。
5.根据权利要求4所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器的制作方法,其特征在于:还包括形成第二导电类型保护环及结终端区的步骤。
6.根据权利要求4所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器的制作方法,其特征在于:所述步骤6)中的栅介质层包括二氧化硅材料或氮氧化硅。
7.根据权利要求4所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器的制作方法,其特征在于:所述步骤7)中的栅电极层包括多晶硅材料;所述多晶硅材料通过原味掺杂方式或者杂质注入后退火的方式完成掺杂。
8.根据权利要求4所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器的制作方法,其特征在于:所述步骤8)中的肖特基接触区包括高级硅化物;所述高级硅化物包括钛硅、铂硅或镍铂硅。
9.根据权利要求1或4所述的一种沟槽型肖特基接触超级势垒整流器及其制作方法,其特征在于:所述栅电极层(70)能够省略,所述上电极层(90)覆盖于栅介质层(60)和肖特基势垒接触区(80)之上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的