[发明专利]基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统

说明书

本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统，包括：仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块，可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程，可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令，接收并存储遥测信息，为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。

技术领域

本发明涉及卫星产品中的固态存储器，具体为固态存储器综合处理器系统的地面仿真，主要应用于大容量固存设计相关技术领域，特别涉及一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统。

背景技术

基于FLASH的固态存储器(固存)作为存储设备广泛应用于卫星工程。FLASH的优势在于功耗小、成本低、断电不丢失数据，缺点是受限于芯片工艺，不能保证在其生命周期内性能可靠。为此有必要设计存储控制FPGA来对卫星产品中的FLASH进行坏块管理。但由于存储板中有效存储单元FLASH坏块产生具有随机性，在地面硬件联测中难以精确设置存储板产生坏块的位置，硬件联测无法保证存储控制FPGA在不同坏块分布工况下的坏块管理正确性。为此有必要设计一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统来模拟存储板产生坏块的各种工况，精确设置坏块产生位置，以保证对存储控制FPGA的测试覆盖率。为此，本发明提出了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统。

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发明内容

本发明的目的在于提供一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统，以解决现有的卫星工程的中存储技术的初始坏块表、出厂坏块表、工作坏块表的建立及维护、建立存储板中FLASH执行擦写、读操作并向存储控制FPGA反馈坏块信息的机制。此外仿真系统还包含向存储控制FPGA输出各种遥控指令、输出复位信号、工作时钟，模拟辅控板接收存储控制FPGA输出的页读页写状态并输出可读可写使能信号。特别要解决在硬件联测中难以控制的存储板出现坏块位置，

为实现上述目的，本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统，用于为存储控制FPGA提供闭环的工作环境，以及模拟存储板在地面硬件联测中无法实现的擦写/读过程中出现坏块的工况，具体包括：

仿EEPROM模块，包括三片EEPROM，分别用于仿真初始坏块表、出厂坏块表及工作坏块表；

仿模拟量遥测接收模块，用于接收并记录所述存储控制FPGA输出的坏块变化、坏块下传地址、坏块总量、读/擦除地址信息；

仿串口遥测接收模块，用于接收所述存储控制FPGA输出的遥测信息；

仿存储板模块，用于模拟所述存储板接收地址锁存、命令锁存、命令组合信号、地址/状态组合信号后向所述存储控制FPGA反馈存储板中的好/坏块状态，同时与所述仿EEPROM模块配合，以完成所述存储板对坏块的检测和标记；

仿时钟、复位、块保护模块，用于向所述存储控制FPGA提供复位信号、工作时钟、工作表保护信号；

仿辅控板模块，用于接收所述存储控制FPGA输出的读溢出标志、页写、页读状态，并向所述存储控制FPGA输入可读、可写指令；

仿遥控指令发送模块，用于向所述存储控制FPGA输入写存储板指令、读存储板指令、停存储板指令、坏块上注指令。

较佳地，所述仿EEPROM模块的三片EEPROM在初始态分别存储了所述初始坏块表、出厂坏块表及工作坏块表的初始数据，并根据所述存储控制FPGA接收的遥控指令来维护所述初始坏块表、出厂坏块表及工作坏块表，同时，将维护所述初始坏块表、出厂坏块表及工作坏块表的过程进行分别记录。