[发明专利]电容值的测量方法

权利要求书

1.一种电容值的测量方法，步骤包含：

导通一参考开关与一虚接开关，且不导通一待测开关，以形成一参考电容、一虚接电容、对应该参考电容的一第一寄生电容与一比较器杂散电容并联至一检测节点的一第一并联架构，其中，该比较器杂散电容是由一比较器与一周边线路的耦合所形成，且该比较器连接至该检测节点；

检测该第一并联架构的该检测节点的一节点电压的一第一作动时间；

导通该待测开关与该虚接开关，且不导通该参考开关，以形成一待测电容、该虚接电容、对应该待测电容的一第二寄生电容与该比较器杂散电容并联至该检测节点的一第二并联架构；

检测该第二并联架构的该检测节点的该节点电压的一第二作动时间；

导通该待测开关与该参考开关，且不导通该虚接开关，以形成该待测电容、该参考电容、该第一寄生电容、该第二寄生电容与该比较器杂散电容并联至该检测节点的一第三并联架构；

检测该第三并联架构的该检测节点的该节点电压的一第三作动时间；其中，该第一寄生电容的电容值、该第二寄生电容的电容值与该比较器杂散电容的电容值相等；并且，该第一并联架构下的比较器反应时间、该第二并联架构下的比较器反应时间与该第三并联架构下的比较器反应时间相等；

以及

依据计算该待测电容的电容值，其中C_MEAS代表该待测电容的电容值、C_REF代表该参考电容的电容值、T1代表该第一作动时间、T2代表该第二作动时间以及T3代表该第三作动时间。

2.如权利要求1所述的电容值的测量方法，其中该第一作动时间为该第一并联架构的放电时间、该第二作动时间为该第二并联架构的放电时间，以及该第三作动时间为该第三并联架构的放电时间。

3.如权利要求1所述的电容值的测量方法，其中该第一作动时间为该第一并联架构的充电时间、该第二作动时间为该第二并联架构的充电时间，以及该第三作动时间为该第三并联架构的充电时间。

4.如权利要求1所述的电容值的测量方法，其中检测该第一并联架构的该检测节点的该节点电压的该第一作动时间的步骤包括：于该第一并联架构形成时，开始计时；比较一参考电压与该节点电压；以及于该节点电压到达该参考电压时，停止计时以得到该第一作动时间。

5.如权利要求1所述的电容值的测量方法，其中检测该第二并联架构的该检测节点的该节点电压的该第二作动时间的步骤包括：于该第二并联架构形成时，开始计时；比较一参考电压与该节点电压；以及于该节点电压到达该参考电压时，停止计时以得到该第二作动时间。

6.如权利要求1所述的电容值的测量方法，其中检测该第三并联架构的该检测节点的该节点电压的该第三作动时间的步骤包括：于该第三并联架构形成时，开始计时；比较一参考电压与该节点电压；以及于该节点电压到达该参考电压时，停止计时以得到该第三作动时间。