[发明专利]点灯回点治具及其检测面板的方法

说明书

本发明涉及一种点灯回点治具及其检测面板的方法。该点灯回点治具包括：柔性电路板和X板；所述柔性电路板一端设有接合区域用以接合到所述X板上，另一端设有接合区域用以接合到切断成盒测试焊垫的液晶面板的覆晶薄膜上；所述X板上设有供成盒阶段检测设备和所述柔性电路板连接的检测焊垫；所述柔性电路板设有内部走线，当所述柔性电路板同时接合到所述X板和液晶面板时，所述内部走线用于连通所述检测焊垫和液晶面板的覆晶薄膜。本发明还提供了相应的检测面板的方法。本发明的点灯回点治具及其检测面板的方法可以提高检测良率及减小物料、机台、人力等成本浪费；方便模组阶段面板可以返回成盒阶段进行检测。

技术领域

本发明涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种点灯回点治具及其检测面板的方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

主动式液晶显示器中，每个子像素具有一个薄膜晶体管(TFT)，其栅极(Gate)连接至水平扫描线，漏极(Drain)连接至垂直方向的数据线，源极(Source)则连接至像素电极。在水平扫描线上施加足够的电压，会使得该条水平扫描线上的所有TFT打开，此时该条水平扫描线上的像素电极会与垂直方向上的数据线连通，从而将数据线上的显示信号电压写入像素，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果。目前主动式液晶显示面板水平扫描线的驱动主要由面板外接的芯片(IC)来完成，外接的IC可以控制各级水平扫描线的逐级充电和放电。阵列基板行驱动(Gate Driver On Array，简称GOA)技术，也就是利用现有薄膜晶体管液晶显示器阵列(Array)制程将栅极(Gate)行扫描驱动信号电路制作在Array基板上，实现对Gate逐行扫描的驱动方式。

典型的液晶显示器的基本制程分为四段：阵列制程(Array)、彩膜制程(ColourFilter)、成盒制程(Cell)、模组制程(Module)。其中阵列制程主要包括使用镀膜、曝光、显影、刻蚀等技术在玻璃基板上形成TFT；成盒制程主要包括形成液晶切割裂片，并注入液晶材料；模组制程则主要包括将切割完成的面板加装驱动芯片、印刷线路板、背光模组等。

液晶显示器在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试，即成盒阶段检测，以确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程一般先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。目前工厂在大批量生产时，一般通过成盒测试焊垫(cell test pad)接合覆晶薄膜接合焊垫(cof bonding pad)，通过成盒测试焊垫对液晶面板输入测试信号。

覆晶薄膜(Chip On Film，简称COF)是将芯片(源极驱动IC或栅极驱动IC等)接合并安装在形成了布线图形的柔性布线基板上构成的。覆晶薄膜的布线图形通常由与芯片的电极连接的内引线和与外部电路连接的外引线构成。在液晶显示器中，由基板上纵横交错的栅线和数据线控制各个像素，以实现图像的显示。扫描信号和数据信号是从液晶显示器中的控制芯片发出的，通常利用覆晶薄膜将扫描信号和数据信号分别传输至基板上的栅线和数据线。具体的，覆晶薄膜通过一组连接引线连接至基板上的一组扇形引线，再连接至显示区域的栅线或数据线。

如图1所示，其为现有技术中成盒阶段检测后成盒测试焊垫与覆晶薄膜接合焊垫之间走线断开示意图。成盒阶段检测时成盒测试焊垫在图1方框所示接合区域(bondingarea)与覆晶薄膜的覆晶薄膜接合焊垫1相接合，成盒阶段检测设备可以经由成盒测试焊垫向显示面板输入测试信号。在GOA产品生产过程中，液晶面板在经过成盒阶段检测设备后，会使用激光设备将成盒测试焊垫与覆晶薄膜接合焊垫之间的走线断开，防止ESD(静电释放)从焊垫处引至面板内，导致异常发生。