[发明专利]一种直接测汞仪进样舟有效
申请号: | 201711168973.6 | 申请日: | 2017-11-21 |
公开(公告)号: | CN108195758B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 祝银;杨承虎;李子孟;刘琴 | 申请(专利权)人: | 浙江省海洋水产研究所 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N1/44;G01N21/31 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 316021 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 直接 测汞仪进样舟 | ||
本发明属于元素分析设备技术领域。本发明公开了一种直接测汞仪进样舟,其由由舟体和护盖组成,舟体由样品舱、挡片和滑轨组成,样品舱为设于舟体内的梯形长槽,样品舱的上部设有开口,样品舱内等距设有下凹的挡片槽;滑轨为半圆形滑槽,滑轨设于样品舱开口的边缘;挡片插设于样品舱的挡片槽内,挡片的形状与样品舱相配套,其上端面与样品舱上部齐平;护盖由保护盖和盖柄组成,保护盖底面还设有密封涂层。本发明保证样品在进样舟移动过程中不会洒落倾倒,解决了样品浪费或仪器污染的问题;通过控制体积份数达到同一溶液在各阶段不同量的目的,实现溶液的梯度变化;节约了配置不同标准溶液浓度的时间,提高了工作效率。
技术领域
本发明涉及元素分析设备技术领域,尤其是涉及一种直接测汞仪进样舟。
背景技术
进样器将待测样品引入吸收池,通过加热升温挥发成气体 , 通过吸收池的光线被吸收而减少,从而测定样品中组分的含量。传统测汞方法需要进行样品前处理,而汞元素的易挥发性将直接导致结果的不确定,对仪器的光学测量池造成破坏性污染,同时汞元素对实验室环境和人体健康造成污染。直接测汞仪不需要对样品进行前处理,样品将直接进入仪器吸收池进行热分解、金汞齐反应,保持实验室环境清洁。但直接测汞仪配备的进样器为一简单的小舟形式,称取样品、放置于仪器样品盘上时,易洒落易倾倒,造成浪费并且污染仪器,同时还无法实现同一溶液在各阶段不同量测量这一目的。因此,在使用时如何确保固体微粒、液体样品不会浪费,是急需解决的问题。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种能够保证样品在进样时不易倾覆并能实现同一溶液在各阶段不同量测量的直接测汞仪进样舟。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
一种直接测汞仪进样舟,由舟体和护盖组成,舟体由样品舱、挡片和滑轨组成,样品舱为设于舟体内的梯形长槽,样品舱的上部设有开口,样品舱内等距设有下凹的挡片槽;滑轨为半圆形滑槽,滑轨设于样品舱开口的边缘;挡片插设于样品舱的挡片槽内,挡片的形状与样品舱相配套,其上端面与样品舱上部齐平;护盖由保护盖和盖柄组成,保护盖和盖柄一体成型,盖柄小于保护盖。
作为优选,滑轨设于样品舱开口的三边。
作为优选,挡片槽中,每一个挡片槽包括位于样品舱底部和两侧壁并且连续的三段子槽。
作为优选,挡片槽为3~5个,所述的挡片为3~5个。
挡片的设计能提供不同的体积份数,通过控制体积份数达到同一溶液在各阶段不同量的目的,从而实现溶液的梯度变化。
作为优选,保护盖底面还设有密封涂层,密封涂层由密封涂层浆料经涂敷烘干后制得。
在直接测汞过程中,样品放置到进样舟中,然后需要加热到600℃左右热分解样品,使样品中的汞挥发成气体才能进行测汞。为了更准确得通过控制体积份数实现溶液的梯度变化,需要将进样舟中不需要进行测试的部分进行隔离,而单一的利用普通保护盖和挡片进行隔离,其效果较差,挡片顶部和保护盖之间存在一定的空隙,即使新进样舟挡片顶部和保护盖之间不存在空隙,经过加热和使用后空隙也会渐渐出现,影响测试的准确性,同时也影响进样舟的使用寿命,因此,在保护盖底部即面对进样舟样品舱的一侧涂敷一定厚度并具有高温微膨胀的密封涂层,该密封涂层由密封涂层浆料经涂敷烘干后制得。
作为优选,密封涂层浆料由以下重量份的原料制得,插层蒙脱石30份,滑石粉8~10份,氧化硅6~8份,硅橡胶1~2份,水20~30份,硅烷偶联剂1~2份,稀盐酸溶液0.5~1.0份。
作为优选,密封涂层浆料由以下方法制得,先将氧化硅、硅橡胶与水、硅烷偶联剂、稀盐酸溶液混合后以2000~3000rpm转速下球磨30~50分钟制得混合浆,然后将插层蒙脱石和滑石粉加入到混合浆中并以50~70rpm的转速搅拌20~30分钟制得密封涂层浆料。
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