[发明专利]一种微波扫描设备及微波成像系统

权利要求书

1.一种微波扫描设备，其特征在于，包含：

微波发射单元，用以发射无线微波信号至受测物体；

微波接收单元，与所述微波发射单元为相对配置，所述微波接收单元用以接收穿透所述受测物体的无线微波信号；以及

微波聚焦单元，配置于所述微波发射单元与所述微波接收单元之间，所述微波聚焦单元用以将尚未至所述受测物体的无线微波信号进行微波聚焦及能量模态转换。

2.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波聚焦单元的材料是选自由FR4、氧化铝、RT-Duroid系列、RO系列、高温共烧陶瓷、低温共烧陶瓷、透明导体基板与半导体所组成的群组中的至少一个。

3.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波接收单元包含矩形环状同轴线、矩形环状共面波导线、矩形环状槽线或矩形环状带线。

4.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波发射单元包含标准型导波管式喇叭天线、双脊宽频喇叭天线、双脊宽频开口喇叭天线、双极化宽频喇叭天线或双极化宽频开口喇叭天线。

5.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波聚焦单元包含第一聚焦结构、第二聚焦结构及第三聚焦结构，其中所述第一聚焦结构与所述第三聚焦结构分别朝向所述微波发射单元与所述微波接收单元，且所述第二聚焦结构夹设于所述第一聚焦结构与所述第三聚焦结构之间。

6.如权利要求5所述的微波扫描设备，其特征在于，所述第二聚焦结构的平面长度与平面宽度分别为所述第一聚焦结构与所述第三聚焦结构中的每一个的平面长度与平面宽度的1.5倍至2.5倍。

7.如权利要求5或6所述的微波扫描设备，其特征在于，所述第一聚焦结构、所述第二聚焦结构与所述第三聚焦结构均为椭圆柱状结构，所述第一聚焦结构与所述第三聚焦结构中的每一个的平面长度与平面宽度分别为3.6λ与1.8λ，所述第二聚焦结构的平面长度与平面宽度分别为7.2λ与3.6λ，其中λ为所述微波发射单元所发射的无线微波信号的波长。

8.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波聚焦单元与所述微波发射单元的距离大为2.5λ至3.5λ，所述微波聚焦单元与所述微波接收单元的距离为4λ至5λ，其中λ为所述微波发射单元所发射的无线微波信号的波长。

9.如权利要求1所述的微波扫描设备，其特征在于，所述微波聚焦单元的厚度为2λ至2.5λ，其中λ为所述微波发射单元所发射的无线微波信号的波长。

10.一种微波成像系统，其特征在于，包含：

如权利要求1至9项中任一项所述的微波扫描设备；

微波信号处理单元，电性连接至所述微波扫描设备，所述微波信号处理单元用以自所述微波扫描设备接收所述无线微波信号，并对所述无线微波信号进行介电参数分析和影像还原解析；以及

控制与记录单元，电性连接至所述微波扫描设备和所述微波信号处理单元，所述控制与记录单元用以控制所述微波扫描设备且记录由所述微波信号处理单元所处理的所述无线微波信号，并对所述微波信号处理单元提供数据信息读写功能。