[发明专利]投影式复检机及其校正方法

说明书

本发明提出一种投影式复检机及其补偿校正方法，使得该投影式复检机在不同的操作环境中，均能藉由该补偿校正方法对投射出的图像予以补偿修正，提供操作人员在复检时能够在待复检物上更快速地找出需确认是否为真实缺陷的位置。

技术领域

本发明系关于一种用于检测电路的光学检测、复检方法，更特别的是关于一种应用于投影式复检机的补偿校正方法。

背景技术

光学辨识系统如自动光学检测机(Automated Optical Inspection,AOI)及外观终检机(Automatic Final Inspection,AFI)等检测机台，如今已经被普遍应用在电子业之电路板组装生产线上的检测流程中，用以取代以往的人工目测检视作业，它利用影像技术比对待测物与标准影像是否有差异来判断待测物有否符合标准，由此可知，自动光学检测大幅节省了检测时间及人力成本。此外，自动光学检测设备还具有较高之稳定度以及操作弹性等优点。

而经由光学检测后，会再将光学检测机台之检测结果及可能存在缺陷的待复检物A送至复检站，经人工辨识后确认是否为真的缺陷或仅是光学检测机台的误判，进而操作人员再将待复检物A进行标识或是修复的动作。而在复检站时，为能方便人员判断光学检测机台检出的缺陷是位于待复检物A的何处位置上，习知之投影式复检站技术如图1所示，包括有显示单元10、运算单元20、投影单元30、平台40，其设计之方式将待复检物A放置于投影单元的下方平台40上，再透过上方之投影单元30将前端经光学检测机台检测后判读的可能缺陷处投射于待复检物A上，以方便人员能够直接目视该检出缺陷在待复检物A上的实际位置及判断是否为真的缺陷。

然而，习知之投影式复检机在各厂家使用环境及条件不一，例如因实际待复检物A大小不同故投影单元架设的高度不同，又或者是使用者使用时摆放平台40不完全水平等因素，这导致上方投影单元30投射出的影像有所偏差，而其投射出的缺陷位置处也相对会有偏差，例如图1当中箭头所指实际待复检物A旁投射出误差的虚线处，如果缺陷位置位于待复检物A的右下角，则投影单元30投射出的缺陷位置会让操作者难以辨识位于实际待复检物A上的何处位置上，故如何补偿校正投影式复检机使其能适用于不同操作环境，以方便操作人员能更准确的比对出是否为真实缺陷，此实为业界亟待解决的问题，本发明案即为此提出解决方案。

发明内容

本发明之一目的在于缩短光学检测机于检测流程中所需的时间，特别是在光学复检站之复检流程中。

本发明之另一目的在于提供一种投影式复检机的检测方法，以供操作人员在复检时能够在实际待复检物上更快速地找出需确认是否为真实缺陷的位置。

本发明的又一目的为，提出一种投影式复检机的补偿校正方法，使得其在不同的操作环境中，均能经由该校正方法对投影式复检机投射出的图像予以补偿修正。

为达上述之目的，本发明提出一种投影式复检机，包含：

显示单元，可用于显示理论值图像；

指令输入装置，可用于选取理论值图像及待复检物上相对应之至少2点；

运算单元，其根据理论值图像及待复检物上选定之至少2点计算校正量；及

投影单元，用以输出校正后的图像。

为达上述之目的，本发明提出一种投影式复检机的校正方法，包含：

步骤S100：于一理论值图像上选定至少2点；

步骤S200：于一投影平面上根据实际待复检物选定对应于理论值图像上之该至少2点；

步骤S300：运算单元根据步骤S100及步骤S200选定之该至少2点来计算校正量；及

步骤S400：输出校正后的投影图像。