[发明专利]透照构件的X射线检测方法在审
| 申请号： | 201711174690.2 | 申请日： | 2017-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN109827977A | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 戚克鹏;任欣 | 申请（专利权）人： | 宁波至信检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 李丽华 |
| 地址： | 315135 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待检测区域 待检测构件 透照 胶片系统 照射线 胶片 检测 材料成本 分析检测 工作效率 胶片冲洗 无损检测 晾干 暗盒 封装 影像 节约 | ||
1.一种透照构件的X射线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；
将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；
根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；
根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；
将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果。
2.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，在确定待检测区域的最小厚度和最大厚度之前，按照所述待检测构件的厚度差和曲率，将所述待检测构件划分为多个待检测区域，并为每个待检测区域进行编号。
3.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：
将至少两张感光度相同的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。
4.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：
将至少两张感光度互异的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。
5.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，还包括：
在所述胶片系统加入增感屏。
6.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述根据待检测区域的厚度范围和胶片系统确定透照射线检测工艺，包括：
确定射线检测的检测设备及工艺参数。
7.根据权利要求6所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述确定透线检测的检测设备及工艺参数，包括：
确定所述X射线的入射方向。
8.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述胶片的黑度为2.0～4.0。
9.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述根据待检测区域的厚度范围和胶片类型确定透照射线检测工艺，包括：
在非检测区域设置可屏蔽所述X射线的屏蔽板。
10.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，还包括：
在发射所述X射线的射线机窗口设置光阑。
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