[发明专利]一种AgSn基粉体氧化程度的定量评价方法

说明书

本发明提供一种AgSn基粉体氧化程度的定量评价方法，包括：第一步，将银粉、锡粉与微量金属M粉体进行机械混合均匀形成AgSn基粉体，AgSn基粉体中银含量百分比为m1，对该粉体进行差热分析，计算差热曲线上120‑450℃范围内的吸热峰面积S1；第二步，将上述混合后的AgSn基粉体进行氧化，对氧化后的粉体进行化学滴定检测银含量，银含量百分比为m2，并对氧化后的粉体进行差热分析，计算差热曲线上120‑450℃范围内的吸热峰面积S2；第三步，根据公式进行AgSn基粉体氧化程度的评价。该方法能够有效地评价AgSn基粉体的氧化程度，这对内氧化技术制备AgSnO₂基粉体具有十分重要的指导意义。

技术领域

本发明涉及一种材料技术领域中电触头材料的粉体氧化程度的评价方法，具体地说，涉及的是一种银锡基粉体氧化程度的定量评价方法。

背景技术

电触头是电器开关中的核心元件，它担负着电路的接通与断开，及负载电流的任务，被广泛应用于空气开关、继电器、交直流接触器等低压和高压电器中，涉及到现代社会的民用、军事、航天与航空等各个领域。目前广为使用的银氧化镉电接触材料有极好的性能与较低的材料成本，制备工艺很成熟和稳定。银氧化镉材料中含有对人体和环境有害的镉元素，而且在银氧化镉材料的生产、装配、使用及回收的过程中都存在镉元素污染问题，开发性能相当甚至更为优异的无镉电接触材料成为当前的研究热点。

AgSnO₂是公认的最有希望替代银氧化镉的环保型电接触功能材料。目前为止，制备AgSnO₂的方法主要有粉末冶金、化学沉淀法与内氧化法。相对于粉末冶金与化学沉淀法存在的缺陷，如粉末冶金工艺中SnO₂在银基体中分布不均匀与加工成型困难，化学沉淀法生产周期长与成本较高，内氧化法制备AgSnO₂得到了更广泛的应用。内氧化法制备AgSnO₂需要添加促进氧化速率的元素，如金属铟，AgSn粉体的氧化程度严重影响AgSnO₂电接触材料的使用性能。

目前生产中，常采用判断内氧化程度的方法主要有：(1)质量变化法，内氧化前后粉体的质量变化来间接判断氧化程度，由于粉体中氧含量的增加质量很难准确称量，因此该方法对质量的测量精度要求较高，存在较大的误差；(2)氧含量检测法，通过检测粉体氧化后的氧含量来判断氧化程度；(3)显微分析法，通过金相甚至是扫描电镜及XRD技术对来组织中的物相进行成分分析，来判断氧化程度，方法较繁琐耗时。

经检索，现有AgSn氧化程度的评价方法中尚未发现与本发明主题相同或类似的报道。

发明内容

针对现有AgSn氧化程度评价方法存在的不足，本发明提供一种AgSn基粉体氧化程度的定量评价方法，操作简便，准确度高。

为了实现上述目的，本发明所述的AgSn基粉体氧化程度的定量评价方法，包括以下步骤：

第一步，将银粉、锡粉进行机械混合均匀或将银粉、锡粉与微量金属M粉体进行机械混合均匀，形成AgSn基粉体，其中AgSn基粉体中银含量百分比为m1，并对该粉体进行差热分析，计算差热曲线上120-450℃范围内的吸热峰面积S1；

第二步，将上述混合后的AgSn基粉体进行氧化，对氧化后的粉体进行化学滴定检测银含量，银含量百分比为m2，并对氧化后的粉体进行差热分析，计算差热曲线上120-450℃范围内的吸热峰面积S2；

第三步，对AgSn基粉体氧化程度E进行定量评价，其公式为：

优选地，第一步中，所述的AgSn基粉体成分中元素的质量百分比为：Ag 53-95％，Sn 4-47％，金属M 0-5％。

优选地，第一步中，所述的AgSn基粉体中金属M为Zn，In，Ni，Bi中的一种或多种。