[发明专利]基于t分布检验法的数字校准方法

说明书

本发明公开了一种基于t分布检验法的数字校准方法，对所需校正通道的连续m个采样值进行t分布检验剔除异常值并按公式重新计算，循环校正，设定最多循环K次，超出循环次数则强制退出，对循环后的采样值进行分位数处理，得到最终的采样数据。本发明可提高通道数据采样精度，对数字量参数进行校准。

技术领域

本发明涉及电力系统自动化技术领域，具体涉及一种基于t分布检验法的数字校准方法。

背景技术

国内主要有武汉豪迈、北京博电、深圳凯旋、广州昂立等厂家已经有光数字继电保护测试仪的产品，但由于IEC61850技术应用本身较为复杂、新产品开发周期较短、实际工程应用经验较少以及统一的技术标准与规范缺乏等原因，这些测试仪均存在诸多问题，某些装置甚至在现场应用中很多基本测试都无法完成。另外，由于工作原理不同，各种型号产品的功能与性能差异也较大。这些均对现场实际应用产生了较大影响，无法满足继电保护测试的技术要求。因此，迫切需要开展数字式继电保护测试仪的相关检测，规范数字式继电保护测试仪的相关功能，提升其整体性能，为继电保护测试提供更好的方式与手段。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明提供一种基于t分布检验法的数字校准方法，提高通道数据采样精度，对数字量参数进行校准。

本发明的技术方案是：一种基于t分布检验法的数字校准方法，包括：

步骤1：对所需校正通道的连续m个采样值，计算初始平均值x₀；

步骤2：若|x₀-x_j|＞ε，其中，ε为最大允许随机误差，x_j为采样值，j＝1,2,...,m，则x_j视为异常值；

步骤3：遍历m个连续采样值，将满足条件的离散异值取出{x_j,j＝1,2,3...n}，计算异值序列期望值：

步骤4：计算标准差的估计量s，以及剩余误差w_g：

步骤5：计算出估计量s后，按置信概率95％和分布的自由度v＝n-2查询t检验临界值表，得到此时t分布的临界值t(0.05，n-2)；

如果剩余误差值w_g满足下列公式

|w_g|≥t(0.05,n-2)·s

判断x_j为实际异常值则剔除，并按以下公式重新计算：

步骤6：计算新的平均值，重复步骤2～步骤6，设定最多循环K次，超出循环次数则强制退出；

步骤7：对步骤6得到的采样值进行分位数处理，得到最终的采样数据。

进一步地，所述步骤7具体为：步骤6得到的采样值构成大小为M的采样数据集，将采样数据集排序后，位于Φ×M(Φ∈[0,1])位置的元素称为数据集的Φ分位数，利用二分法计算Φ由0到1，采样数据x_j的分布轨迹，与各自曲线中位数的距离大于设定阀值的数据为离异数据，剔除离异数据，得到最终的采样数据。本发明具有有益效果：提高通道数据采样精度，对数字量电压、数字量电流等参数进行校准。

附图说明

图1是本发明基于t分布检验法的数字校准方法流程示意图；

图2是本发明一实施例校正系统工作原理示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。