[发明专利]读出放大电路在审
申请号: | 201711180527.7 | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN108109647A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 大塚雅之 | 申请(专利权)人: | 拉碧斯半导体株式会社 |
主分类号: | G11C7/06 | 分类号: | G11C7/06;G11C11/56 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 存储单元 读出放大电路 放大 电位 电位控制部 检测 电流放大 读出电流 读出期间 位线 读出 读出数据 消耗电流 对位线 流动 | ||
本发明提供一种能够减少消耗电流并且能够对来自存储单元的读出数据进行检测的读出放大电路。是对从存储单元读出的数据进行检测的读出放大电路,其具备:控制与存储单元连接的位线的电位的电位控制部;放大从存储单元向位线流动的读出电流并生成放大电流的电流放大部;基于放大电流,对从存储单元读出的数据进行检测的检测部。电位控制部在数据读出期间对位线的电位进行控制,在数据读出期间内设置有电流放大期间,电流放大部在电流放大期间放大读出电流。
技术领域
本发明及读出放大电路。
使用读出放大电路作为对从存储单元读出的数据进行检测的电路。作为这样的读出放大电路公知有通过从所选择出的存储单元对在位线中流动的电流进行检测,来判定来自存储单元的读出数据的所谓电流检测型的读出放大电路。
电流检测型的读出放大电路例如由晶体管以及逆变器构成,具有控制位线的电位的电位控制部、基于读出电流对读出数据进行检测的检测部。在上述读出放大电路中,对位线的电位进行控制,并基于根据从存储单元向位线流动的电流(读出电流)而变化的节点电位与逆变器的阈值电位的比较结果,逆变器输出高电平或者低电平的信号,由此进行存储于存储单元的数据的判定(例如专利文献1)。
专利文献1:日本特开2001-250391号公报
在上述那样的读出放大电路中,在位线中流动的读出电流小的情况下,需要用于放大读出电流的电流放大部。在具备电流放大部的读出放大电路中,由于在存储器读出期间将电位控制部与电流放大部均控制为开启状态(进行动作的状态),所以存在电路整体的消耗电流大这样的问题。
另外,在进行长周期的读出的情况下,通常被要求与短周期的读出相比消耗电力低。然而,在上述那样的读出放大电路中,每小时的消耗电流在读出期间之间是一定的,因此存在无法满足低消耗电力的要求这样的问题。
发明内容
本发明的读出放大电路是对从存储单元读出的数据进行检测的读出放大电路,其特征在于具备:电位控制部,控制与上述存储单元连接的位线的电位;电流放大部,放大从上述存储单元向上述位线流动的读出电流并生成放大电流;以及检测部,基于上述放大电流,对从上述存储单元读出的数据进行检测,上述电位控制部在数据读出期间控制上述位线的电位,在上述数据读出期间内设置有电流放大期间,上述电流放大部在上述电流放大期间放大上述放大读出电流。
根据本发明的读出放大电路,能够减少消耗电流并且能够对来自存储单元的读出数据进行检测。
附图说明
图1是表示实施例1的读出放大电路的构成的电路图。
图2是示意性表示存储单元的结构的图。
图3是表示实施例1的延迟电路的构成的电路图。
图4是表示实施例1的延迟电路的动作时的信号波形以及节点电位的时序图。
图5是表示实施例1的读出放大电路的动作时的信号波形以及节点电位的时序图。
图6是表示实施例2的读出放大电路的构成的电路图。
图7是表示实施例2的延迟电路的构成的电路图。
图8是表示实施例2的延迟电路的动作时的信号波形以及节点电位的时序图。
图9是表示实施例2的读出放大电路的动作时的信号波形以及节点电位的时序图。
图10是表示实施例2的读出放大电路的变形例的图。
附图标记说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于拉碧斯半导体株式会社,未经拉碧斯半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711180527.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种存储单元的编程方法及装置
- 下一篇:非挥发性内存装置