[发明专利]用于确定与消光相关的被测量的方法及相应的传感器装置有效
| 申请号： | 201711180641.X | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN108169140B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 蒂洛·克拉施梅尔;拉尔夫·伯恩哈特;马蒂亚斯·格罗斯曼 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/31;G01N21/59 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 确定 相关 测量 方法 相应 传感器 装置 | ||
1.一种用于确定介质中的被测量的方法，包括以下步骤：
将光辐射到所述介质中并在第一路径长度(OPL1)之后测量消光(21，22，23)，
将光辐射到所述介质中并在第二路径长度(OPL2)之后测量消光(31，32，33)，其中所述第一路径长度(OPL1)不同于所述第二路径长度(OPL2)，以及
利用第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)确定所述被测量；
其中通用模型将第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)与所述被测量相关联，其中所述通用模型与环境条件和测量位置无关；
其中所述被测量是吸收、散射、浓度或浊度，并且对于这些被测量中的每一个使用单独的模型。
2.一种用于确定介质中的被测量的传感器装置(10)，所述传感器装置(10)被设计为执行根据权利要求1所述的方法，
其中所述传感器装置(10)包括至少一个用于将光辐射到介质中的光源(1)，并且
其中所述传感器装置(10)包括至少一个用于测量消光的检测器(3)，
其中所述传感器装置(10)包括处理单元，
其中通用模型被存储在所述处理单元的存储器中，
其中所述通用模型将第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)与所述被测量相关联，其中所述通用模型与环境条件和测量位置无关。
3.根据权利要求2所述的传感器装置(10)，
其中所述传感器装置(10)包括壳体(11)，所述壳体(11)包括第一路径长度(OPL1)和第二路径长度(OPL2)。
4.根据权利要求2或3所述的传感器装置(10)，
其中所述传感器装置(10)包括用于在所述第一路径长度(OPL1)的方向上辐射光的第一光源，
其中所述传感器装置(10)包括用于在所述第二路径长度(OPL2)的方向上辐射光的第二光源，
其中所述传感器装置(10)包括用于测量第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)的第一检测器，并且
其中所述传感器装置(10)包括用于测量第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)的第二检测器。
5.根据权利要求2或3所述的传感器装置(10)，其中所述光源(1)被设计为LED。
6.根据权利要求4所述的传感器装置(10)，
其中附加检测器与所述光源(1)或所述第一光源或第二光源相关联，所述附加检测器被设计成检测所述光源(1)或所述第一光源或第二光源中的强度变化。
7.根据权利要求2或3所述的传感器装置(10)，
其中所述传感器装置(10)被设计为固体含量传感器。
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