[发明专利]焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器

说明书

本发明公开了一种焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括：获取焦平面阵列的几何参数集；建立与几何参数集对应的目标数学模型；根据目标数学模型确定焦平面阵列的成像质量。通过本发明，达到了提高焦平面阵列评价的准确性的效果。

技术领域

本发明涉及图像处理领域，具体而言，涉及一种焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器。

背景技术

目前，焦平面阵列可以为焦平面凝视阵列，现有的相机都采用焦平面凝视阵列。焦平面阵列在离散采样过程会伴有混叠现象。比如，在抽样的时候频率不够高，抽样出来的点既代表了信号中的低频信号的样本值，也同时代表了高频信号样本值，在信号重建的时候，高频信号被低频信号代替，两种波形完全重叠在一起，从而造成信号的严重失真。

现有的焦平面阵列的成像质量评价方法都是基于经验定性评价，并没有考虑混叠现象，且无法给出定量结果，比如，传统的香农采样理论用探测元间隔的倒数来表征混叠量，这种方法能够对传统的矩形阵列混叠做出简单的评价，但是无法对其做出解释，也不适用于非矩形阵列以及各向异性传递函数所引入的混叠现象，存在焦平面阵列评价的准确性低的问题。

针对现有技术中焦平面阵列评价的准确性低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器，以至少解决焦平面阵列评价的准确性低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种焦平面阵列的处理方法。该方法包括：获取焦平面阵列的几何参数集；建立与几何参数集对应的目标数学模型；根据目标数学模型确定焦平面阵列的成像质量。

可选地，建立与几何参数集对应的目标数学模型包括：建立与第一几何参数对应的混叠效应评价模型，其中，几何参数集包括第一几何参数，目标数学模型包括混叠效应评价模型，混叠效应评价模型用于确定焦平面阵列的混叠效应；建立与第二几何参数对应的成像质量评价模型，其中，几何参数集包括第二几何参数，目标数学模型包括成像质量评价模型，成像质量评价模型用于根据混叠效应确定成像质量。

可选地，建立与第一几何参数对应的混叠效应评价模型包括：在目标方向上，对焦平面阵列进行离散采样，得到采样阵列，其中，第一几何参数包括目标方向；获取采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数，其中，信噪比倒数用于确定焦平面阵列在目标方向上的混叠量；根据信噪比倒数建立混叠效应评价模型。

可选地，根据信噪比倒数建立混叠效应评价模型包括：对目标范围内的所有信噪比倒数求取平均值，其中，目标范围内的所有信噪比倒数为分别在多个目标方向上，对焦平面阵列进行离散采样得到的多个采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数；通过平均值建立混叠效应评价模型。

可选地，在对焦平面阵列进行离散采样，得到采样阵列之后，该方法还包括：获取采样阵列的期望值；根据期望值获取在目标方向上的采样传递函数；根据采样传递函数确定采样阵列在目标方向上的输出结果；对输出结果进行傅里叶变换，得到第一变换结果；分别对第一变换结果中的第一项和第二项进行逆傅里叶变换，得到第二变换结果，其中，第二变换结果用于表征焦平面阵列的输出图像的空间域，第二变换结果中的第一项用于表征输出图像在焦平面阵列上的点扩散函数，第二变换结果中的第二项用于表征由混叠效应产生的加性噪声；获取采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数包括：根据采样传递函数、加性噪声获取采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数。

可选地，获取采样阵列的期望值包括：根据采样阵列的像素大小、采样间隔、目标方向与水平方向之间的夹角、目标函数与焦平面阵列的像元中心的偏移量，获取采样阵列的期望值。