[发明专利]一种极弱磁性材料的检测方法有效
申请号: | 201711188150.X | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107907842B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 宋侃;克莱门斯·凯斯勒;陈康;刘造;李正刚 | 申请(专利权)人: | 武汉中科牛津波谱技术有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 张英 |
地址: | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁性材料 检测 方法 | ||
1.一种基于磁场均匀性执行极弱磁性材料的检测方法,所述极弱磁性材料磁化率为10-6~10-7数量级,其特征在于,所述检测方法包括如下步骤:
将待测试材料设置于分辨率为10-9~10-10数量级的均匀磁场中执行二维柱状旋转图像成像,从成像信息中提取所述待测试材料的磁性对所述均匀磁场的影响信息实现对所述待测试材料的检测,所述分辨率为10-9~10-10数量级的均匀磁场由核磁共振波谱仪产生;所述影响信息的类型包括二维柱状旋转图像的影像图像、等势线、幅度、多层切面二维等势线或均方根误差。
2.如权利要求1所述的基于磁场均匀性执行极弱磁性材料的检测方法,其特征在于,设定影响信息阈值,若提取的所述影响信息小于上述阈值,则判定所述待测试材料磁性合格;
若提取的所述影响信息大于或等于上述阈值,则执行匀场,重新计算匀场后的对所述均匀磁场的影响信息,并再次与所述阈值比较,重复设定次数的匀场仍大于或等于上述阈值的,则判定所述待测试材料磁性不合格。
3.一种核磁共振波谱仪执行极弱磁性材料的检测方法,所述极弱磁性材料磁化率为10-6~10-7数量级,其特征在于,所述检测方法包括如下步骤:
将待测试材料设置于样品管表壁检测区域的中心位置,将经过上述处理的所述样品管插入核磁共振波谱仪中,所述核磁共振波谱仪探头配备Z方向梯度线圈,及包括X方向和Y方向在内的多通道室温匀场线圈;
设定倾斜三维梯度回波脉冲序列,并且获取检测的梯度回波采样数据,并由所述梯度回波采样数据重建拟合表征所述样品管壁表面磁场变化的二维柱状旋转图像;通过所述二维柱状旋转图像中提取的对均匀磁场的影响信息评估所述材料完成检测;所述影响信息的类型包括二维柱状旋转图像的影像图像、等势线、幅度、多层切面二维等势线或均方根误差。
4.如权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述二维柱状旋转图像的重建拟合包括如下步骤:
对所述梯度回波采样数据进行三维快速傅里叶变换,获得表征不同成像回波时间的三维频率数据,从所述三维频率数据截取所述样品管壁表面的位点并重建为所述二维柱状旋转图像。
5.如权利要求3或4所述的检测方法,其特征在于,利用所述二维柱状旋转图像信息评估所述材料磁性包括如下步骤:
设定图像信息影响阈值,若提取的所述影响信息小于上述阈值,则判定所述材料磁性合格;
若提取的所述影响信息大于或等于上述阈值,则执行匀场,重新计算匀场后的所述二维柱状旋转图像中提取的对均匀磁场的影响信息,并再次与所述阈值比较,重复设定次数的匀场仍大于或等于上述阈值的,则判定材料磁性不合格。
6.如权利要求5中所述的检测方法,其特征在于,在重建所述二维柱状旋转图像之前,对获取的所述三维频率数据采用重心平移法矫正X和Y方向匀场梯度的相位编码偏差所造成的图像位移和失真。
7.如权利要求1-4、6中任意一项中所述的检测方法,其特征在于,上述检测方法用于探头射频线圈材料磁性检测。
8.如权利要求5中所述的检测方法,其特征在于,上述检测方法用于探头射频线圈材料磁性检测。
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