[发明专利]基于峰值覆盖值和面积计算的纺织品瑕疵检测方法

权利要求书

1.一种基于峰值覆盖值和面积计算的纺织品瑕疵检测方法，其特征在于：包括训练阶段和测试阶段两个阶段；训练阶段，根据一系列无瑕疵纺织品灰度图像，以下简称无瑕图像，计算图格分割所需参数，而后对无瑕图像进行图格分割并计算测试阶段瑕疵识别所需参数；测试阶段，根据训练阶段得到的参数对一副纺织品图像进行图格分割并判断图格是否包含瑕疵，最后标记含有瑕疵的图格；

所述训练阶段包括以下步骤：

步骤1：根据一系列无瑕图像计算图格分割所需参数，以确定图格理想尺寸；

步骤2：根据步骤1中获得的图格理想尺寸，对训练样本集进行图格分割，获得训练样本图格；

步骤3：计算步骤2中图格分割生成的训练样本图格的图格面积，从而获得训练样本集中无瑕图像的无瑕面积区间；

所述测试阶段包括以下步骤：

步骤4：测试样本图格分割，对一副给定的测试样本，按照步骤2的方法对测试样本进行图格分割，获得测试样本图格；

步骤5：按照步骤3的方法计算测试样本的图格面积，并将计算结果与无瑕图像的图格面积进行比较，以识别有瑕疵的图格；

步骤1具体包括以下步骤：

步骤1.1：背景像素投影，根据RTV模型计算纺织品灰度图像I的卡通成分，应用Bradley方法二值化卡通成分，通过形态学腐蚀和膨胀操作对二值化卡通成分降噪，应用Moore-Neighbor跟踪算法得到二值化I_c中的二值对象，计算二值化卡通成分中二值对象面积，删除面积不在区间((1-α)·m_a,(1+α)·m_a)内的二值对象得到二值化纺织品图像I_tc，其中m_a为二值对象面积中位值，且0<α<1；计算I_tc中每行每列背景像素数，按行索引升序排列每行背景像素数得到背景像素行投影按列索引升序排列每列背景像素数得到背景像素行投影

步骤1.2：计算峰值覆盖值，计算纺织品灰度图像I的背景像素行投影的峰值，将峰值按其在背景像素行投影中的索引升序排列得到峰值序列对于p_r中第个峰值根据下式计算的覆盖值

与背景像素行投影的覆盖值计算方法相同，将上式中下角标r的项替换为具有下角标c的对应项即可，计算的峰值序列计算其中1≤i_pc；计算p_r中峰值覆盖值的有序集合中元素按大小降序排列；对于中的第个元素峰值序列中满足的有序集合称为第级峰值第级峰值中的元素按其在中的索引升序排列；对于第级峰值，计算每个峰值与其前一峰值在中的索引之差绝对值，计算这些绝对值的中位值及其出现次数组成集合组成集合中元素取值组成集合类似地，根据和计算满足的有序集合“第级峰值”计算第l′级峰值中前后元素在中的索引之差绝对值及其中位值和中位值出现次数组成多重集组成多重集中元素取值组成集合

步骤1.3：计算图格理想尺寸，对训练样本集的I₁,I₂…I_N中的第i个训练样本I_i，根据步骤1.2计算I_i的p_r，p_c，和计算取值集合I_i的理想行数由下式定义：

其中，δ为狄拉克δ函数(Dirac delta function)，I_i的理想列数计算与类似，即将上式中具有下角标r的项替换为具有下角标c的对应项即可；图格理想尺寸定义为的中位值和的中位值