[发明专利]一种高精度光耦自检装置和方法

说明书

本发明公开了一种高精度光耦自检装置和方法，用于检测设备中包含光耦和马达的装置是否为正常工作状态或是否发生故障，以及对用于到位检测的到位位置和到位阈值进行快速高精度的有效确定。本发明的高精度光耦自检装置至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器。本发明利用光耦器件反馈的光耦检测信号进行检测，可应用于各类需要到位检测的设备，在不使用仪表和不需要拆解设备装置的情况下直观反馈故障情况，通过条件设定判断和自动设定合适的阈值，可提高到位检测的精度和准确度，检测结果快速直观，提高设备出厂检测的效率，提高设备使用的寿命，改善用户体验。

技术领域

本发明涉及自动检测领域，尤其是涉及到一种高精度的光耦自检装置和自检方法。

背景技术

投影技术的发展让投影设备在办公和家用领域不断普及，其中投影设备在使用的过程中涉及对聚焦马达／电动仓门或其他部件进行位置检测或到位检测，以配合获取最优的投影效果。市面上现有的电动调焦或自动对焦投影设备，部分采用通用输入输出接口（GPIO）或模数转换电路（ADC）连接到光耦器件，并通过GPIO接口数据或ADC值反馈检测结果。通常GPIO接口通过电平变化判断位置，ADC通过设定一个常数(一般为125)比较判断位置。但上述现有技术中存在较多缺陷，首先机械结构批量制造存在的公差导致对于每个装置结构的个体的比较值有偏差，从而导致检测结果不准确；其次在基于电平变化的位置检测中发生信号变化的位置通常不是一个精确点而是一个位置范围，电平变化并不能精确反映移动部件位置的变化；而采用ADC检测光耦反馈的电压值进行检测，一般是通过程序直接设定的一个常数作为判断阈值，会出现精度较差、设定值可能为临界值、系统兼容性差等问题；另外调焦设备通常都是采用通过程序设定一个固定的调焦行程，但在实际批量生产中由于制造公差的固定调焦距离会导致部分机器无法满程调焦，从而出现部分机型会结构卡住从而损坏马达，且实际检测中光耦可能处于损坏的状况，这两种情况下现有技术通常采用电压表测试电平变化的方法，并且在装上整机的情况下需要拆机后测量，处理过程非常麻烦。

发明内容

本发明的目的在于：针对现有技术中存在的上述缺陷，提供一种高精度光耦自检装置和方法，用于检测设备中包含光耦和马达的装置是否为正常工作状态或是否发生故障，以及对用于到位检测的到位位置和到位阈值进行快速高精度的有效确定，改善到位误判。

本发明采用的技术方案如下：

一种高精度光耦自检装置，至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；

所述自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器，所述控制器分别与马达和光耦连接；

用于检测进光量的光耦安装在到位位置处，并将检测的光耦信号数据发送至控制器；

控制器通过控制马达的转动控制第一部件的移动，并接收自检参数数据。

进一步的，所述第一部件上安装有用于改变光耦进光量的挡片。

进一步的，所述第一部件为光机或仓门。

进一步的，所述控制器控制马达转动，马达每次转动一步，控制器接收和读取一次光耦传输的光耦信号值。

进一步的，所述自检参数数据包括马达步数和光耦信号数据。

一种高精度光耦自检方法，该自检方法包括以下步骤：

控制器通过控制马达的转动带动第一部件在移动行程内移动，安装在到位位置处的光耦检测进光量并将进光量转换为光耦信号数据；

控制器在马达转动的同时接收自检参数数据，并根据自检参数检测是否故障和是否到位。

进一步的，所述第一部件上安装有用于改变光耦进光量的挡片。