[发明专利]一种大米抛光装置

说明书

本发明涉及一种大米抛光装置，包括粗抛光室和细抛光室，粗抛光室中转动连接有若干竖直的第一转辊，第一转辊上连接有若干粗抛光丸，细抛光室中转动连接有若干竖直的第二转辊，第二转辊上连接有若干细抛光丸，粗抛光室和细抛光室之间转动有转动板，转动板的侧部延伸到细抛光室的外侧，转动板上设有若干通孔，粗抛光室的底部设有出料管，转动板的底部紧贴有挡板，挡板位于出料管的底端的正下方，转动板的上方转动有第三转辊，第三转辊上设有推板，细抛光室上设有位于第三转辊下方的进料板，转动板位于细抛光室外侧的一端的下方设有第一收集室，细抛光室的底部连接有第二收集室。本方案防止了粗抛光丸将筛网堵住，便于大米进入到细抛光室中。

技术领域

本发明涉及大米加工技术领域，尤其涉及一种大米抛光装置。

背景技术

大米抛光是现有粮食加工很为普遍的加工过程，大米抛光机械被广泛的应用于粮食加工企业中。现有的抛光机一般设有粗抛光室和细抛光室，如中国专利申请号为CN201611251075.2公开了大米抛光装置，该装置中粗抛光室中均设有粗抛光丸，细抛光室中设有细抛光丸，通过搅拌杆搅拌带动粗抛光丸和细抛光丸分别在粗抛光室和细抛光室中滚动，对大米进行抛光。大米在粗抛光室中抛光完毕后经过筛网掉落到细抛光室中，对大米进行二次抛光，但是粗抛光丸是撒落在粗抛光室中的，粗抛光丸容易将筛网的筛孔堵住，影响大米下落到细抛光室中，从而影响大米的抛光效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种大米抛光装置，以防止粗抛光丸将筛网堵住，而影响大米进入到细抛光室中。

为达到上述目的，本发明的基础技术方案是：一种大米抛光装置，包括粗抛光室和细抛光室，粗抛光室位于细抛光室的上方，粗抛光室的顶部设有进料斗，粗抛光室中转动连接有若干竖直的第一转辊，第一转辊上固定连接有若干粗抛光丸，细抛光室中转动连接有若干竖直的第二转辊，第二转辊上固定连接有若干细抛光丸，粗抛光室和细抛光室之间转动有转动板，转动板的侧部延伸到细抛光室的外侧，转动板上设有若干通孔，粗抛光室的底部设有出料管，粗抛光室的底部设有粗筛网，出料管的底端指向转动板，转动板的底部紧贴有挡板，挡板位于出料管的底端的正下方，转动板的上方转动有第三转辊，第三转辊上设有推板，细抛光室上设有位于第三转辊下方的进料板，转动板位于细抛光室外侧的一端的下方设有第一收集室，细抛光室的底部连接有第二收集室，细抛光室和第二收集室之间设有细筛网，第一转辊、第二转辊、第三转辊上均连接有第一驱动机构，转动板上连接有第二驱动机构。

本方案的工作原理为：粗抛光室用于对大米进行初次抛光，细抛光室用于对大米进行再次抛光。经历过初次抛光的大米从出料管排出，并撒落到转动板上，由于大米在粗抛光室中的抛光是随机的，故从出料管排出的经过初次抛光的大米抛光的程度不同，有的大米在粗抛光室中抛光的比较透彻，大米的磨损比较严重，大米的颗粒比较细小，有的大米在粗抛光室中抛光的程度较低，大米磨损的程度较低，大米的颗粒比较大。所以颗粒比较小的大米能够进入到通孔中，颗粒比较大的大米不会进入到通孔中，而是位于转动板的顶部，由于挡板与转动板的底部相贴，挡板将通孔堵住，故位于通孔内的小颗粒的大米不会从通孔中掉落。转动板转动时，带动通孔内的小颗粒大米和转动板顶部的大颗粒大米一同移动。当转动板转动到没有挡板的一侧时，通孔没有挡板挡住，小颗粒大米从通孔中掉落到第二收集室中，从而实现了小颗粒大米的收集，并且也使小颗粒大米与大颗粒大米分离。由于大颗粒大米位于转动板的顶部，故大颗粒大米经过第三转辊时，第三转辊带动推板转动，从而将位于转动板顶部的大颗粒大米从转动板上刮落，大颗粒大米掉落到进料板中，并沿进料板掉落到细抛光室中，进行再次抛光，大颗粒大米经过再次抛光以后与小颗粒大米的抛光程度相同，从而保证了大米整体的抛光质量。由于粗抛光丸固定连接在第一转辊上，故粗抛光丸被第一转辊固定，粗抛光丸不会撒落在粗筛网上，将粗筛网的网孔堵住，同理，细抛光丸固定连接在第二转辊上，故细抛光丸被第二转辊固定，细抛光丸不会撒落在细筛网上，将细筛网的网孔堵住，保证大米从粗筛网和细筛网上正常下落。