[发明专利]反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法在审
申请号: | 201711189562.5 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN109841713A | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 李晓明;吴向龙;闫宝华;任忠祥;肖成峰;郑兆河 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/42;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流扩展层 电流扩展 四元LED 上端 反极性 负性光刻胶 高温退火 制备 芯片 负性光刻胶层 规模化生产 出光效果 欧姆接触 生长 常规的 高光效 去除 剥离 腐蚀 | ||
1.一种反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
a)在已经完成于GaAs衬底(1)上生长反极性四元外延层(2)的反极性AlGaInP四元LED外延片的P型GaP层(3)上生长一层膜;
b)在反极性AlGaInP四元LED外延片的膜上涂负性光刻胶,形成负性光刻胶层(5);
c)通过光刻在负性光刻胶层(5)上刻蚀形成电流扩展图形,腐蚀P型GaP层(3)上端面上的电流扩展图形内的膜;
d) 在反极性AlGaInP四元LED外延片上通过电子束蒸镀的方式蒸镀一层ITO膜(6),通过负性光刻胶剥离工艺将P型GaP层(3)上端面上的电流扩展图形之外的ITO膜(6)去除;
e) 将P型GaP层(3)上端面上的电流扩展图形内的ITO膜(6)进行高温退火,在P型GaP层(3)上制得P面欧姆接触层及电流扩展层。
2.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤a)中通过PECVD生长的方法生长膜。
3.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤a)中的膜的厚度为0.3-0.4。
4.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤b)中负性光刻胶层(5)的厚度为1.5-3。
5.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于,步骤c)中腐蚀P型GaP层(3)上端面上的电流扩展图形内的膜的步骤为:
c-1)利用浓度为96%的氟化铵溶液、含量为40%的氢氟酸以及纯水按照质量体积比为3:6:18或3:9:18的比例配置腐蚀液;
c-2)将反极性AlGaInP四元LED外延片置入腐蚀液中进行腐蚀,将负性光刻胶层(5)露出的SiO2膜(4)进行腐蚀。
6.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤c)中膜的腐蚀时间为1-2分钟。
7.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤c)中的电流扩展图形为圆柱形或线形结构。
8.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤d)中ITO膜(6)的厚度为0.1-0.13。
9.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤d)中ITO膜(6)的蒸镀温度为220℃-300℃。
10.根据权利要求1所述的反极性四元LED的P面欧姆接触层及电流扩展层的制备方法,其特征在于:步骤e)中ITO膜(6)的退火温度为450-550℃。
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