[发明专利]含监测薄膜的光学投影装置及其封装方法在审

专利信息
申请号: 201711191626.5 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN107942612A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 闫敏;王兆民;邓想全 申请(专利权)人: 深圳奥比中光科技有限公司
主分类号: G03B21/20 分类号: G03B21/20
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 代理人: 江耀纯
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 监测 薄膜 光学 投影 装置 及其 封装 方法
【权利要求书】:

1.一种含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,包括:

基底,用于固定光源以及承载镜筒;其中,所述光源用于发射光束;

透镜,安装在所述镜筒上,用于接收并汇聚所述光源发射的光束;

透明基板,安装在所述镜筒上,所述透明基板一侧含有衍射图案结构,用于接收经所述透镜汇聚后的光束并投射出图案化光束;

监测薄膜,包括附着于与所述衍射图案结构所在表面对应的所述透明基板表面上的透明导电薄膜;

控制电路,与所述监测薄膜以及所述光源电连接,通过测量所述监测薄膜的完整性来控制所述光源的发光状态。

2.如权利要求1所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述透明基板还包括至少一个倾斜面或缺口,所述倾斜面或缺口表面上附着有透明导电薄膜。

3.如权利要求2所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,还包括:电极或焊盘,所述电极或焊盘安装在所述倾斜面或缺口,用于连接所述透明导电薄膜与所述控制电路。

4.如权利要求3所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述通过测量所述监测薄膜的完整性来控制所述光源的发光状态指的是:

所述控制电路通过连续或间隔地向所述透明导电薄膜注入小电流,并监测回路的阻值变化,以间接判断所述透明基板的完整性及对所述光源做出相关控制操作。

5.如权利要求1所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述镜筒的外侧和/或内侧设置有导电金属层。

6.如权利要求5所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述镜筒与所述透明基板之间设置有锡球或焊点,用于连接所述透明导电薄膜与所述导电金属层;和/或所述镜筒与所述基底之间设置有锡球或焊点,用于连接所述导电金属层与所述基底。

7.如权利要求6任一所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述监测薄膜的完整性包括所述透明导电薄膜、所述导电金属层、所述基底的完整性以及相互之间连接的完整性。

8.如权利要求7所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述通过测量所述监测薄膜的完整性来控制所述光源的发光状态指的是:

所述控制电路通过连续或间隔地向所述透明导电薄膜注入小电流,并监测回路的阻值变化,以间接判断所述透明基板的完整性及对所述光源做出相关控制操作。

9.如权利要求1所述的含监测薄膜的光学投影装置,其特征在于,所述通过测量所述监测薄膜的完整性来控制所述光源的发光状态指的是:

所述控制电路与所述透明导电薄膜、所述光源形成的单一回路,当所述透明导电薄膜完整性受到破坏时,回路发生中断,光源将自动关闭。

10.一种含监测薄膜的光学投影装置的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:

提供基底;

提供光源,所述光源安装在基底上,用于发射光束;

提供镜筒,所述镜筒安装在所述基底上;

提供透镜,安装在所述镜筒上,用于接收并汇聚所述光源发射的光束;

提供透明基板,安装在所述镜筒上,所述透明基板一侧含有衍射图案结构,用于接收经所述透镜汇聚后的光束并投射图案化光束;

提供监测薄膜,包括提供附着于与所述衍射图案结构所在表面对应的所述透明基板表面上的透明导电薄膜;

提供控制电路,与所述透明导电薄膜以及所述光源电连接,通过测量所述监测薄膜的完整性来控制所述光源的发光状态。

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