[发明专利]一种红外热像仪的镜头标定方法及装置

权利要求书

1.一种红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，包括：

获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数；

其中，利用下述公式，根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数：

式中，Gc为所述修正非均匀性校正系数，G为所述用户非均匀性校正系数，Gp为所述探测器非均匀性校正系数；

所述计算所述红外探测器在所述当前温度下的实时探测器非均匀性校正系数包括：

获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述实时探测器非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

2.根据权利要求1所述的红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，所述根据所述当前温度获取相对应的温度修正值包括：

根据所述当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度对应的温度修正值；

所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为所述红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表。

3.一种红外热像仪的镜头标定装置，其特征在于，包括：

获取信息模块，用于获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

第一计算模块，用于根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

第二计算模块，用于当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

第三计算模块，用于计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数；

所述第一计算模块具体用于：

利用下述公式，根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数：

式中，Gc为所述修正非均匀性校正系数，G为所述用户非均匀性校正系数，Gp为所述探测器非均匀性校正系数；

所述第二计算模块包括：

获取单元，用于获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

计算单元，用于根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的实时探测器非均匀性校正系数；所述计算单元具体利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述实时探测器非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。